[实用新型]检测装置

权利要求书

1.一种检测装置，其特征在于，包括基板、第一测量组件和第二测量组件，所述第一测量组件和所述第二测量组件呈夹角设于所述基板上，

所述第一测量组件用于测量工件沿第一方向的尺寸，所述第二测量组件用于工件沿第二方向的尺寸，所述第一测量组件和所述第二测量组件均包括定位块、活动元件及测量元件，所述定位块设于所述基板上，所述测量元件设于所述活动元件上，所述活动元件能够朝靠近或远离所述定位块的方向移动，以便所述测量元件测量出工件的尺寸。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第一测量组件和/或第二测量组件还包括动力单元，所述动力单元设于所述基板上，用于驱动所述活动元件移动。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第一测量组件和/或第二测量组件还包括导轨，所述导轨设于所述基板上并沿第一方向或第二方向延伸，所述活动元件滑动设于所述导轨。

4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述测量元件为数显百分表，所述数显百分表固定设于所述活动元件，所述第一测量组件和/或第二测量组件还包括基准块，所述基准块设于所述基板上，所述数显百分表的触针与所述基准块相对设置，所述基准块朝向所述触针的表面为基准面，所述基准面到所述定位块的间距为标准工件在第一方向或第二方向的尺寸，

当所述活动元件与所述工件相抵接时，所述触针与所述基准面相接触，并示出测量值。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括第三测量组件，所述第三测量组件包括基座、测量尺及滑块，所述基座设于所述基板上，所述测量尺垂直设于所述基座，所述滑块活动设于所述测量尺上，所述滑块能够沿所述测量尺移动至与工件表面相抵，以测量出所述工件沿第三方向的尺寸。

6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述基板的上表面为标准平面，所述检测装置还包括塞尺，所述塞尺用于测量所述工件的底面与所述基板上表面在多个位置处的间距，以便得出所述工件底面的平面度。

7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括机架、大理石平台以及塞尺，所述大理石平台设于所述机架上，所述大理石平台的上表面为标准平面，将所述工件转移至所述大理石平台上，所述塞尺可测量出所述工件的底面与所述大理石平台上表面在多个位置处的间距，以便得出所述工件底面的平面度。

8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述基板活动设于所述机架上，所述基板与所述机架的间距大于所述大理石平台的厚度。

9.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括若干定位组件，所述定位组件设于所述机架上，用于固定所述基板和所述机架的相对位置。

10.根据权利要求9所述的检测装置，其特征在于，所述定位组件包括安装板、弹簧及定位珠，所述安装板设于所述机架上，所述安装板开设有容置槽，所述定位珠设于所述容置槽内，所述弹簧设于所述容置槽内壁和所述定位珠之间，所述基板侧面开设有配合槽，所述定位珠能够进入所述配合槽内，以固定所述基板的位置。