[实用新型]一种MPO-FA芯片质量检测器

权利要求书

1.一种MPO-FA芯片质量检测器，包括机器底座（1）和伸缩气缸（7），其特征在于：所述机器底座（1）的底端连接有防滑橡胶垫（2），且机器底座（1）的顶端连接有置物盘（3），并且置物盘（3）的内部设置有置物槽（4），所述机器底座（1）的内部设置有第一滑槽（5），且第一滑槽（5）的内部设置有第一滑块（6），所述伸缩气缸（7）固定于机器底座（1）的顶端，且伸缩气缸（7）的顶端连接有连接架（8），并且连接架（8）的内部设置有第二滑槽（9），所述第二滑槽（9）的内部设置有第二滑块（10），且第二滑块（10）的底端连接有连接块（11），并且连接块（11）的内部设置有第三滑槽（12），所述第三滑槽（12）的内部设置有第三滑块（13），且第三滑块（13）的底端连接有仪器外壳（14），并且仪器外壳（14）的表面设置有显示屏（15），所述仪器外壳（14）的表面设置有仪器按钮（16），且仪器外壳（14）的底端设置有检测头（17）。

2.根据权利要求1所述的一种MPO-FA芯片质量检测器，其特征在于：所述防滑橡胶垫（2）与机器底座（1）之间为同轴连接，且防滑橡胶垫（2）与机器底座（1）的底面之间处同一水平面设置，并且置物盘（3）与机器底座（1）的顶面之间处同一水平面设置。

3.根据权利要求1所述的一种MPO-FA芯片质量检测器，其特征在于：所述置物盘（3）与机器底座（1）之间为同轴连接，且置物槽（4）与置物盘（3）之间为同轴连接，并且置物槽（4）与置物盘（3）之间处同一直线设置。

4.根据权利要求1所述的一种MPO-FA芯片质量检测器，其特征在于：所述第一滑块（6）与机器底座（1）之间为滑动连接，且第一滑块（6）与机器底座（1）之间通过第一滑槽（5）构成滑动安装结构，并且伸缩气缸（7）与机器底座（1）之间采用相互垂直设置。

5.根据权利要求1所述的一种MPO-FA芯片质量检测器，其特征在于：所述连接架（8）与伸缩气缸（7）之间采用相互垂直设置，且第二滑块（10）与连接架（8）之间为滑动连接，并且第二滑块（10）与连接架（8）之间通过第二滑槽（9）构成滑动安装结构。

6.根据权利要求1所述的一种MPO-FA芯片质量检测器，其特征在于：所述第三滑块（13）的外径与第三滑槽（12）的内径相同，且第三滑块（13）与连接块（11）之间为滑动连接，并且第三滑块（13）与连接块（11）之间通过第三滑槽（12）构成滑动安装结构。