[实用新型]一种集成电路测试载板

说明书

本实用新型公开了一种集成电路测试载板，包括测试载板本体，所述测试载板本体上设置有若干个第一插槽和与第一插槽并排设置的若干个第二插槽，所述测试载板本体上滑动设置有若干块盖合在第一插槽和第二插槽上方的盖板，所述每一个所述盖板上均设置有一个第一延伸孔和一个第二延伸孔，当若干块所述盖板聚拢贴合时所述第一延伸孔与第一插槽相对，当若干块所述盖板彼此远离时，所述第二延伸孔与一部分第二插槽相对。采用第一插槽和第二插槽两种测试方式，且两种测试方式可自由切换使用方便；无论是利用第一插槽还是利用第二插槽均可一次性测试若干个集成电路，提升工作效率。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，更具体地说，涉及一种集成电路测试载板。

背景技术

集成电路(integrated circuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。

为了确保集成电路的使用性能，需要采用测试载板对集成电路电学性能进行测试，测试方式为：将集成电路一侧的插头插接到测试载板的插槽内，然后通过测试载板上的操作装置和显示装置进行性能检测。现有的测试载板测试效率低下，只能进行单一逐个检测，无法同时检测若干个，也无法实现空间最大化利用；同时使用的灵活度不高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试载板，用以解决上述背景技术中存在的技术问题。

本实用新型技术方案一种集成电路测试载板，包括测试载板本体，所述测试载板本体上设置有若干个第一插槽和与第一插槽并排设置的若干个第二插槽，所述测试载板本体上滑动设置有若干块盖合在第一插槽和第二插槽上方的盖板，所述每一个所述盖板上均设置有一个第一延伸孔和一个第二延伸孔，当若干块所述盖板聚拢贴合时所述第一延伸孔与第一插槽相对，当若干块所述盖板彼此远离时，所述第二延伸孔与一部分第二插槽相对。

在一个优选地实施例中，所述第一插槽、第一延伸孔和第二延伸孔均设置为四个，且第一延伸孔设置在盖板的中心位置，所述第二延伸孔设在盖板远离边测试载板本体边缘一侧，所述第二插槽设置为六个，且其中两个第二插槽设置有测试载板本体中轴线上。

在一个优选地实施例中，所述第二插槽和第一插槽不同时使用，当盖板聚拢时四个第一插槽用于测试使用。

在一个优选地实施例中，所述测试载板本体上设置有滑槽，所述盖板底部设置滑块，所述滑块滑动固定在滑槽内。

在一个优选地实施例中，所述盖板底部铰接有用于对盖板支撑的伸缩支撑件，所述伸缩支撑件对称设置在盖板部，且收缩时与盖板在同一水平面上。

在一个优选地实施例中，所述盖板底面设置有收纳槽，所述收纳槽一侧设置有铰接轴，所述伸缩支撑件包括套设在铰接轴上的支撑杆，所述支撑杆远离与铰接轴连接端设置有支撑脚，所述支撑杆通过铰接轴转入或转出收纳槽。

在一个优选地实施例中，所述测试载板本体上还设置有显示屏和操作按钮。

本实用新型技术方案的有益效果是：

1.采用第一插槽和第二插槽两种测试方式，且两种测试方式可自由切换使用方便；无论是利用第一插槽还是利用第二插槽均可一次性测试若干个集成电路，提升工作效率。

2.盖板通过滑槽实现滑动，从而实现两种测试方式的切换，切换方便，使用灵活。

3.盖板向外滑动后，盖板的外侧是没有支撑的，在集成电路插接后盖板易发生倾斜，通过设置伸缩支撑件对盖板进行支撑，保证盖板受力均匀，且伸缩支撑件可进行收缩，不用时收回盖板即可，不会对盖板的滑动造成影响。

附图说明