[实用新型]一种高效率的AWG测试系统

说明书

本实用新型公开了一种高效率的AWG测试系统，包括：可调光源、偏振控制器、三台功率计、光开关机箱、AWG、分支器和电脑，光开关机箱内部装有二十四个1×2光开关，共有二十四个输入端和四十八个输出端；可调光源与偏振控制器连接；偏振控制器与AWG输入端连接；分支器一端有四十八个连接头，另一端是四条十二芯带纤，连接头与光开关机箱内的光开关的输出端连接，带纤与AWG输出端连接；功率计与光开关机箱内的光开关的输入端连接连接；电脑与可调光源、偏振控制器、三台功率计、以及光开关机箱内的光开关电连接，用于对整个测试系统控制。采用上述技术方案，可以实现把两次通道的信号统一处理，便于统一分析数据，提升测试效率。

技术领域

本实用新型涉及阵列波导光栅产品光学性能参数测试相关技术领域，特别涉及一种高效率的AWG测试系统。

背景技术

现代通信容量的急剧增加,光纤网络单通道的传输容量已日趋饱和，解决这一问题的密集波分复用(DWDM)技术已成为数据传输的高效手段，同时高效的数据传输要求高性能的光器件，这也对光器件的测试提出了更高的要求。阵列波导光栅(AWG)具有信道串扰小，插入损耗低，长期稳定，便于集成，易于光纤耦合等优点，因此，AWG是DWDM系统中最具有应用前景的波分复用/解复用器，在光通信中起着重要的作用。

现有基于扫描波长法测试阵列波导光栅(AWG)产品光学性能参数的测试系统,该系统可以用于AWG产品生产环节中的半成品和成品测试,并可以同时测试插入损耗,偏振相关损耗,峰值波长,中心波长,带宽和串扰等多种AWG产品光学性能参数。参考说明书附图图1所示，现有该种测试系统使用3台8通道功率计，共24通道，分支器与AWG仅能实现24通道连接，一次最多测试24通道，而常规AWG有48通道，一个48通道AWG产品需分两次测试，系统测试一次24通道需要5分钟左右，1个产品需要10分钟，造成测试效率低，两次测试得出两个测试数据表，不便于统一分析数据。

实用新型内容

为了克服现有的技术缺陷，解决现有现有AWG测试效率低的技术问题，本实用新型的目的在于提供一种高效率的AWG测试系统以解决上述技术问题。

本实用新型解决技术问题所采用的技术方案如下：

根据本实用新型的一个方面，设计出一种高效率的AWG测试系统，包括：可调光源、偏振控制器、三台功率计、光开关机箱、AWG、分支器和电脑，所述光开关机箱内部装有二十四个1×2光开关，共有二十四个输入端和四十八个输出端；

所述可调光源与所述偏振控制器连接；

所述偏振控制器与AWG输入端连接；

所述分支器一端有四十八个连接头，另一端是四条十二芯带纤，所述连接头与所述光开关机箱内的光开关的输出端连接，所述带纤与AWG输出端连接；

所述功率计与光开关机箱内的光开关的输入端连接；

所述电脑与可调光源、偏振控制器、三台功率计、以及光开关机箱内光开关电连接，用于对整个测试系统控制。

采用上述技术方案，通过光开关机箱内的二十四个1×2光开关，可以形成二十四个输入端和四十八个输出端，分别对应与功率计上的通道口连接、分支器连接，可以实现把两次通道的信号统一处理，便于统一分析数据，提升测试效率。

为了更好的解决上述技术缺陷，本实用新型还具有更佳的技术方案：

在一些实施方式中，所述功率计与所述光开关机内的光开关通过二十四条双头跳线连接。

在一些实施方式中，所述功率计与所述光开关机内的光开关通过二十四条双头跳线连接。

在一些实施方式中，所述偏振控制器输出与AWG通过一条单头跳线连接。

附图说明

图1为现有的AWG测试系统的结构示意图；