[实用新型]一种半导体分立器件的耐压测试装置

说明书

本实用新型公开了一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括耐压测试装置壳体，所述耐压测试装置壳体的中央固定安装有耐压测试装置主体，所述耐压测试装置主体的中央固定安装有控制操作面板，所述耐压测试装置主体的左右两侧固定安装有第一滑块，所述耐压测试装置主体的左右两侧在所述耐压测试装置壳体上开设有第一滑槽。本实用新型所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，通过设置的第一滑块、第一滑槽、弹簧安装块、拉杆、弹簧、拉杆把手相互配合工作，使耐压测试装置主体可以通过拉动拉杆把手在耐压测试装置壳体内上下滑动，以便于待检测半导体分立器件的安装与拆卸，并且可以通过弹簧的弹力将半导体分立器件压紧。

技术领域

本实用新型涉及耐压测试技术领域，特别涉及一种半导体分立器件的耐压测试装置。

背景技术

半导体产业中有两大分支：集成电路和分立器件，分立器件被广泛应用到消费电子、计算机及外设、网络通信，汽车电子、led显示屏等领域，半导体分立器件在出厂之前需要进行严格的电性能测试，这会影响半导体的使用性能，现在的半导体分立器件的耐压测试装置在测试时安装半导体分立器件非常的麻烦，会浪费大量的时间在安装于拆卸上，且目前的半导体分立器件的耐压测试装置不能将半导体分立器件稳定的固定住，这会大大影响检测的结果，导致检测数据不精准。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种半导体分立器件的耐压测试装置，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括耐压测试装置壳体，所述耐压测试装置壳体的中央固定安装有耐压测试装置主体，所述耐压测试装置主体的中央固定安装有控制操作面板，所述耐压测试装置主体的左右两侧固定安装有第一滑块，所述耐压测试装置主体的左右两侧在所述耐压测试装置壳体上开设有第一滑槽，所述耐压测试装置主体的底端固定安装有弹簧安装块，所述弹簧安装块的底端固定安装有拉杆，所述弹簧安装块的底部与所述耐压测试装置壳体底部的上方之间固定安装有弹簧，所述拉杆的底端固定安装有拉杆把手，所述耐压测试装置壳体的顶部开设有凹槽，所述凹槽顶部的前后两侧在所述耐压测试装置壳体顶部的内部开设有第二滑槽，所述凹槽的顶部开设有第三滑槽，所述第二滑槽内固定安装有半导体分立器件引脚插块，所述半导体分立器件引脚插块的底部开设有插孔，所述半导体分立器件引脚插块顶部的前后两侧固定安装有第二滑块，所述半导体分立器件引脚插块顶部的中央固定安装有引脚插块拉杆，所述引脚插块拉杆上安装有锁紧螺母，所述锁紧螺母的左右两侧固定安装有拧紧把手，所述锁紧螺母的底部固定安装有防滑垫圈。

优选的，所述弹簧安装块、拉杆、弹簧的数量为三组，弹簧安装块、拉杆、弹簧分别对称的安装在所述耐压测试装置主体的底端与所述耐压测试装置壳体底部的上方之间。

优选的，所述第三滑槽的宽度比所述凹槽的宽度小。

优选的，所述半导体分立器件引脚插块、引脚插块拉杆、锁紧螺母、防滑垫圈的数量为两个。

优选的，所述引脚插块拉杆上开设有与所述锁紧螺母相互啮合的螺纹。

优选的，所述半导体分立器件引脚插块与所述耐压测试装置主体通过电连接。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型中，通过设置的第一滑块、第一滑槽、弹簧安装块、拉杆、弹簧、拉杆把手相互配合工作，使耐压测试装置主体可以通过拉动拉杆把手在耐压测试装置壳体内上下滑动，以便于待检测半导体分立器件的安装与拆卸，并且可以通过弹簧的弹力将待检测件压紧，通过设置的第二滑槽、第三滑槽、第二滑块、引脚插块拉杆、锁紧螺母、拧紧把手相互配合工作，使半导体分立器件引脚插块可以在第二滑槽内左右移动并缩紧，调节两个半导体分立器件引脚插块的间距位置可以对不同类型的半导体分立器进行检测，通过设置的防滑垫圈，使在固定半导体分立器件引脚插块的位置时更加稳定。

附图说明