[实用新型]一种用于仪器调试的进样装置

说明书

本实用新型公开了一种用于仪器调试的进样装置，用于与仪器连接进行调试，其中，包含烧杯、杯盖、多通连接头、双通连接头、连接管，杯盖安装在烧杯的顶部，杯盖上开设有固定双通连接头的固定槽，仪器上设有管路接口组，双通连接头的一端插入固定槽后均连接有导管，双通连接头的另一端连接多通连接头或通过连接管与管路接口组连接，多通连接头的另一端通过连接管与管路接口组连接，双通连接头连接的导管也一直放置在烧杯内部，不会与外接接触，能够有效防止杂质进入烧杯内部，保证烧杯不会混入异物杂质的进而防止多通连接头、双通连接头、连接管中混入异物杂质，进而影响仪器的调试，可同时连接多个仪器，有效提高生产效率。

技术领域

本实用新型涉及进样装置领域，具体涉及一种用于仪器调试的进样装置。

背景技术

医用仪器比如一些体外诊断仪器(干式免疫分析仪)在生产时都需要进行调试再使用，在仪器进行调试时需要使用进样装置进行进样，由于进样使用的水为超纯水，不能进入杂质，现有的进样装置多使用简单的管路直接插入烧杯中进行进样，并且管路的多次拔插容易将外界的杂物带入烧杯内部，进而影响仪器的调试数据，因此需要一种能够防止杂物进入的进样装置。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是现有的进样装置由于要进行进样管路的拔插使得有杂质进入烧杯中，对管路造成影响进而影响调试结果，提供一种用于仪器调试的进样装置，进样装置由烧杯、杯盖、多通连接头、双通连接头、连接管组成，双通连接头连接在杯盖上时不再进行拔插，双通连接头连接的导管也一直放置在烧杯内部，不会与外接接触，能够有效防止杂质进入烧杯内部，保证烧杯不会混入异物杂质的进而防止多通连接头、双通连接头、连接管中混入异物杂质，进而影响仪器的调试，可同时连接多个仪器，有效提高生产效率，用以解决现有技术导致的缺陷。

为解决上述技术问题本实用新型提供以下的技术方案：

一种用于仪器调试的进样装置，用于与仪器连接进行调试，其中，包含烧杯、杯盖、多通连接头、双通连接头、连接管，所述杯盖安装在所述烧杯的顶部，所述杯盖上开设有固定所述双通连接头的固定槽，所述仪器上设有管路接口组，所述双通连接头的一端插入所述固定槽后均连接有导管，所述双通连接头的另一端连接所述多通连接头或通过所述连接管与所述管路接口组连接，所述多通连接头的另一端通过所述连接管与所述管路接口组连接，所述烧杯与所述杯盖采用玻璃或医用塑料材质制成，所述多通连接头、所述双通连接头、所述连接管采用医用塑料材质制成。

上述的一种用于仪器调试的进样装置，其中，所述双通连接头的外围设有螺纹与固定座，所述螺纹设置于所述固定座的一侧，所述固定槽的内壁设有匹配所述螺纹的螺纹槽，还包含有固定连接所述双通连接头的螺母，使用时将所述双通连接头带有螺纹的一端从所述杯盖的顶部或底部旋进所述固定槽内，再通过所述螺母旋紧在所述双通连接头上进行紧固，完成所述双通连接头的连接，将所述导管与所述双通连接头近所述杯盖底部的一端连接，将所述多通连接头与所述双通连接头近所述杯盖顶部的一端连接，随后通过所述连接管将仪器上的所述管路接口组分别与所述多通连接头、所述双通连接头进行连接，仪器包含体外诊断仪器、干式免疫仪器等。

上述的一种用于仪器调试的进样装置，其中，所述双通连接头为直型双通连接头且设置有多个，优选为九个，所述双通连接头的两个接头外围均设有环形限位块，所述环形限位块横截面的外围呈梯形。

上述的一种用于仪器调试的进样装置，其中，所述多通连接头为Y型连接头且设置有多个，优选为三个，所述Y型连接头的一端为一头并插入所述双通连接头的一端，所述Y型连接头的另一端为两头且分别与所述连接管连接。

上述的一种用于仪器调试的进样装置，其中，所述Y型连接头的三个接头外围均设有环形限位块，所述环形限位块顺序设置有两个，所述环形限位块横截面的外围呈梯形。

上述的一种用于仪器调试的进样装置，其中，所述多通连接头为三通连接头且设置有多个，优选为三个，所述三通连接头的一端为一头并插入所述双通连接头的一头，所述三通连接头的另一端为三头且分别与所述连接管连接。