[实用新型]测试装置

说明书

本申请公开一种测试装置，其包括装置本体以及锁附组件。装置本体包括第一主体以及第二主体。第一主体具有第一通孔以及第二通孔，第一通孔的内径大于第二通孔的内径，且第一通孔与第二通孔互相连通。第二主体具有对应于第二通孔的锁附孔。锁附组件设置于第一主体与第二主体之间，锁附组件包括螺丝以及套环。螺丝可拆卸地组设于第一通孔、第二通孔以及锁附孔中，螺丝包括螺柱以及位于螺柱一端的螺丝头。套环设置于第一通孔中，套环套设螺柱，套环的两个端面分别抵接于螺丝头以及第一主体，与第一主体接触的套环的外侧表面上设置有止滑部，止滑部与第一通孔内周侧过盈配合。本申请通过套环实现了一种具有高稳定性以及高效率的测试装置。

技术领域

本申请涉及测试装置的技术领域，尤其涉及一种具有耐磨耗、高精度的锁附组件的测试装置。

背景技术

为了确保电子产品的品质，各家工厂皆会设置有测试装置以对产品进行检测。举例来说，测试装置可以通过机械臂全自动地检测产品。其中，测试装置中的机械臂的点位都是按照原位置设定好的。倘若机械臂的偏差超过1毫米，则机械臂的点位就需要重新调整。也就是说，测试装置的结构需要稳定且不能具有明显偏差，以保证测试条件的稳定。

进一步地，为了控制机械臂自动运行，测试装置还包括可开合的外壳体以及位于外壳体内部的电路板和测试排线。为了因应各种测试挑件，测试装置经常性地需要调试、校准、或是重新组装，亦即，测试装置的外壳体常会开启或闭合。

如此一来，反复开启或闭合外壳体易导致用于锁附的螺丝磨损，甚至导致测试装置偏移错位。若因为锁附不当使得点位偏移，将导致机械臂夹抓和治具载具相撞。轻则损坏夹爪，重则对产品造成严重损伤。因此，经开合后的测试装置通常需要30分钟的时长来进行调整。然而，这样的做法耗时耗力，使得产品测试的效率低落。

实用新型内容

本申请实施例提供一种测试装置，解决目前的测试装置需要花费大量时间进行调整的问题。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：

提供了一种测试装置，其包括装置本体以及锁附组件。装置本体包括第一主体以及第二主体。第一主体具有第一通孔以及第二通孔，第一通孔的内径大于第二通孔的内径，且第一通孔与第二通孔互相连通。第二主体具有对应于第二通孔的锁附孔。锁附组件设置于第一主体与第二主体之间，锁附组件包括螺丝以及套环。螺丝可拆卸地组设于第一通孔、第二通孔以及锁附孔中，螺丝包括螺柱以及位于螺柱一端的螺丝头。套环设置于第一通孔中，套环套设螺柱，套环的两个端面分别抵接于螺丝头以及第一主体，与第一主体接触的套环的外侧表面上设置有止滑部，止滑部与第一通孔内周侧过盈配合。

在一些实施例中，止滑部与第一通孔之间具有黏着层。

在一些实施例中，止滑部凹设有多个沟槽，第一通孔的侧壁上设置有多个卡掣凸部，多个沟槽对应于多个卡掣凸部。

在一些实施例中，止滑部为齿状滚花。

在一些实施例中，与螺柱接触的套环的内侧表面上设置有对应于螺柱的螺纹。

在一些实施例中，第二通孔的内径与锁附孔的内径相同。

在一些实施例中，套环的内径与锁附孔的内径相同。

在一些实施例中，第一通孔、第二通孔以及锁附孔共圆心。

在一些实施例中，螺丝的材料包括金属，且套环的材料包括金属。

本实用新型的测试装置通过在装置本体与螺丝之间的套环，可以有效地防止装置本体磨损导致螺丝松动。如此一来，测试装置在开合后，就不需要再花费大量的时间检测错位或是偏移。亦即，本申请通过套环改善了测试装置的定位精准度，也降低了调整的时间成本，实现了一种具有高稳定性以及高效率的测试装置。

附图说明