[实用新型]一种测试板有效

专利信息
申请号: 202120544731.8 申请日: 2021-03-16
公开(公告)号: CN215116625U 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 周启静 申请(专利权)人: 苏州诺存微电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 215300 江苏省苏州市昆山*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试
【说明书】:

实用新型实施例公开了一种测试板,测试板包括:PCB电路板。PCB电路板包括通信模块、电源模块和多个不同类型芯片接入插座。芯片接入插座与外部待测芯片可插拔式电连接;芯片接入插座包括多个测试引脚;电源模块与通信模块电连接;通信模块与芯片接入插座电连接。通过设置芯片接入插座与外部待测芯片的可插拔式电连接,有效降低拆卸芯片的困难,提高测试板的使用寿命,同时设置芯片接入插座的类型不同可实现对不同待测芯片的测试,提高测试兼容性。

技术领域

本实用新型实施例涉及测试板技术,尤其涉及一种测试板。

背景技术

物联网信息技术时代的发展,很多半导体研发企业兴起,越来越多国内半导体研发企业制造自产的芯片产品并且制备工艺逐渐成熟起来。很多芯片领域产品也逐渐采用国产芯片替代进口芯片。由于在芯片制造出来后均需要进行产品测试保证芯片性能良好,当对芯片进行测试时,都需要将待测试芯片贴片到测试板上,才能进行严格的测试。但反复的拆卸、贴片,一方面浪费时间,另一方面多次拆卸重贴会破坏测试板焊盘,很大程度上缩短测试板的使用寿命,很大程度上增加了测试成本。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种测试板,待测芯片在测试板上可插拔式电连接,以提高测试板的使用寿命,同时测试板可实现对不同类型的待测芯片的测试。

为实现上述目的,本实用新型实施例提供了一种测试板,所述测试板包括:PCB电路板;所述PCB电路板包括通信模块、电源模块和多个不同类型芯片接入插座;

所述芯片接入插座与外部待测芯片可插拔式电连接;所述芯片接入插座包括多个测试引脚;所述电源模块与所述通信模块电连接;所述通信模块与所述芯片接入插座电连接。

可选的,所述测试板还包括电源选择模块;所述电源模块通过所述电源选择模块与所述通信模块电连接。

可选的,所述通信模块包括多个母端引脚,所述通信模块通过所述母端引脚与外部测试主板的公端引脚可插拔式电连接。

可选的,所述电源模块包括降压芯片,所述降压芯片的输入端与外部电源电连接,所述降压芯片的输出端与所述电源选择模块的第一输入端电连接;所述电源选择模块的第二输入端与所述外部电源电连接。

可选的,所述PCB板还包括抗干扰电容;所述芯片接入插座的测试引脚还包括电源引脚,所述电源引脚通过所述抗干扰电容接地。

可选的,至少部分数量的所述芯片接入插座的相同类型测试引脚电连接。

可选的,各所述芯片接入插座的测试引脚连接不同所述母端引脚。

可选的,所述PCB电路板还包括多个扩展测试引脚;至少部分所述测试引脚对应连接一所述扩展测试引脚。

本实用新型通过一种测试板,测试板包括:PCB电路板。PCB电路板包括通信模块、电源模块和多个不同类型芯片接入插座。芯片接入插座与外部待测芯片可插拔式电连接;芯片接入插座包括多个测试引脚;电源模块与通信模块电连接;通信模块与芯片接入插座电连接。通过设置芯片接入插座与外部待测芯片的可插拔式电连接,有效降低拆卸芯片的困难,提高测试板的使用寿命,同时设置芯片接入插座的类型不同可实现对不同待测芯片的测试,提高测试兼容性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图虽然是本实用新型的一些具体的实施例,对于本领域的技术人员来说,可以根据本实用新型的各种实施例所揭示和提示的器件结构,驱动方法和制造方法的基本概念,拓展和延伸到其它的结构和附图,毋庸置疑这些都应该是在本实用新型的权利要求范围之内。

图1为本实用新型实施例提供的一种测试板的结构示意图;

图2为本实用新型实施例提供的一种芯片接入插座的结构示意图;

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