[实用新型]一种机匣同轴度辅助测量装置

说明书

本实用新型公开了一种机匣同轴度辅助测量装置，包括芯轴、轴段A和轴段B，所述的轴段B设置在芯轴底端，所述的轴段A设置在芯轴上，且轴段A靠近芯轴顶端，所述的轴段A、轴段B的直径均大于所述芯轴的直径，利用本实用新型可以实现机匣内部有双层孔，且下层孔为深盲孔的同轴度测量，解决目前采用三坐标测量机无法测量问题，实现了机匣以及类似工件结构的同轴度测量。

技术领域

本实用新型涉及机匣同轴度测量技术领域，特别涉及一种机匣同轴度辅助测量装置。

背景技术

飞机机匣同轴度是一种比较常见的形位公差，目前测量方法以三坐标测量最为常见，如图1所示的结构为飞机机匣，需要检验机匣上相对应的深盲孔φB以及通孔φC的同轴度，如图1所示的φB孔对φC孔的同轴度φE，ΦA为过渡孔，在图1所示中的结构，存在的问题是φC与φB孔间距L较大(L≥150mm)；φC、φA、φB孔径小，最大的孔径φC≤φ18mm；且孔φB为盲孔；由于三坐标测量机安装测针的测杆直径较大，无法深入进φC孔中，同时由于测针长度不够，在与φA、φC孔同方向上无法采集到φB孔的相关尺寸，同时由于φB孔底部不通，机匣即使横向放置，也无法同时采集φA孔和φB孔的相关尺寸，进而导致机匣同轴度φE无法测量。

实用新型内容

本实用新型的目的：本实用新型提供机匣同轴度辅助测量装置，解决上述机匣同轴度无法测量的难题，实现机匣的同轴度测量。

本实用新型的技术方案：

一种机匣同轴度辅助测量装置，包括芯轴、轴段A和轴段B，所述的轴段B设置在芯轴底端，所述的轴段A设置在芯轴上，且轴段A靠近芯轴顶端，所述的轴段A、轴段B的直径均大于所述芯轴的直径。

所述的芯轴长度大于(L+10)mm，L为机匣上相对应的深盲孔与通孔之间的距离。

所述的轴段A设置在机匣上的过渡孔内，轴段A与机匣上的过渡孔间隙配合，公差范围为0～Mmm，M＝0.00026a+0.025，8mm≤a≤20mm，其中a为轴段A的直径。

所述的轴段B设置在机匣上的深盲孔内，轴段B与机匣上的深盲孔间隙配合，公差范围为0～Mmm，M＝0.00026b+0.025，mm8≤b≤20mm，其中b为轴段B的直径。

所述的轴段A底部进行倒角处理。

所述的轴段B底部进行倒角处理。

本实用新型的有益效果：

利用本实用新型可以实现机匣内部有双层孔，且下层孔为深盲孔的同轴度测量，解决目前采用三坐标测量机无法测量问题，实现了机匣以及类似工件结构的同轴度测量。

附图说明

图1机匣结构示意图；

图2为本实用新型结构示意图；

图3是本实用新型测量机匣同轴度安装示意图；

其中：1-芯轴，2-轴段A，3-轴段B。

具体实施方式

下面对照附图，通过对实施例的描述，对本实用新型的具体实施方式如所涉及的各构件的形状、构造、各部分之间的相互位置及连接关系、各部分的作用及工作原理、制造工艺及操作使用方法等，作进一步详细的说明，以帮助本领域的技术人员对本实用新型的构思、技术方案有更完整、准确和深入的理解：