[实用新型]一种边缘抛光设备优化结构有效
申请号: | 202120548691.4 | 申请日: | 2021-03-17 |
公开(公告)号: | CN215470353U | 公开(公告)日: | 2022-01-11 |
发明(设计)人: | 张宏杰;刘建伟;武卫;刘园;祝斌;刘姣龙;由佰玲;裴坤羽;孙晨光;王彦君;常雪岩;杨春雪;谢艳;袁祥龙;刘秒;吕莹;徐荣清 | 申请(专利权)人: | 天津中环领先材料技术有限公司;中环领先半导体材料有限公司 |
主分类号: | B24B29/02 | 分类号: | B24B29/02 |
代理公司: | 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人: | 栾志超 |
地址: | 300384 天津市滨海*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 边缘 抛光 设备 优化结构 | ||
本实用新型提供一种边缘抛光设备优化结构,包括:抛光件,抛光晶圆边缘;底盘,设置在所述抛光件的底部,转动所述晶圆。本实用新型的有益效果是在各个重要角度能够抛光晶圆的边缘,刚好满足抛光精度需求,既能提高工作效率、提高产能,又能减少材料浪费,降低抛光时间,抛光更加均匀,降低晶圆边缘的粗糙度,同时方便了辅料垫的更换,提高了更换辅料垫的成功率,能够有效的延长辅料垫的寿命,降低生产成本,减小晶圆与辅料垫接触面的擦伤概率,降低接触面的颗粒度。
技术领域
本实用新型属于晶圆加工优技术领域,尤其是涉及一种边缘抛光设备优化结构。
背景技术
半导体硅晶圆片是集成电路的主要衬底材料,随着半导体工业沿着摩尔定律的急速发展,对晶圆的完整性、均匀性、表面质量、边缘质量和性能检测评价等提出了越来越高的要求,特别是对晶圆的边缘状态要求越来越严格,在加工时需要对晶圆的表面及边缘进行抛光处理,从而确保在外延时,晶圆的边缘处不会产生滑移线或外延错层等缺陷,提高外延片的成品率,进而提高器件的成品率。
现有技术中,抛光设备的底盘的边缘位置设有一圈pvc胶圈,辅料垫直接铺设在胶圈和底盘本体上,因pvc胶圈比底盘本体高出0.2mm,时间久了会和辅料垫之间产生摩擦,导致辅料垫需要经常更换,浪费材料,提高生产成本,且辅料垫的更换成功率较低,如果不进行及时更换,会对晶圆的背面产生一定的磨损,背部出现擦伤且很难去除;抛光件的个数较少,不能确保晶圆的边缘处抛光均匀,导致粗糙度加大;或抛光件个数多却没有固定角度,加大了生产耗材,浪费材料资源。
实用新型内容
本实用新型要解决的问题是提供一种边缘抛光设备优化结构,有效的解决pvc胶圈比底盘本体高出0.2mm,时间久了会和辅料垫之间产生摩擦,导致辅料垫需要经常更换,浪费材料,提高生产成本,且辅料垫的更换成功率较低,如果不进行及时更换,会对晶圆的背面产生一定的磨损,背部出现擦伤且很难去除的问题,同时解决抛光件的个数较少,不能确保晶圆的边缘处抛光均匀,导致粗糙度加大;或抛光件个数多却没有固定角度,加大了生产耗材,浪费材料资源的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案是:一种边缘抛光设备优化结构,其特征在于,包括:抛光件,抛光晶圆边缘;底盘,设置在所述抛光件的底部,转动所述晶圆。
优选地,所述抛光件包括抛光环和抛光头,所述抛光头设置在所述抛光环上,用于抛光所述晶圆的边缘。
优选地,所述抛光环包括第一抛光环、第二抛光环和连接杆,所述第一抛光环设置在所述第二抛光环的上方;所述连接杆一端连接所述第一抛光环,另一端连接所述第二抛光环,固定所述第一抛光环和所述第二抛光环。
优选地,所述抛光头包括抛光块和抛光垫,所述抛光块连接所述抛光环;所述抛光垫设置在所述抛光块上,用于抛光所述晶圆的边缘。
优选地,在垂直于所述抛光环的方向30°、40°、60°和90°处设置所述抛光头。
优选地,所述底盘包括底盘主体和辅料垫,所述辅料垫设置在所述底盘主体上,用于吸附所述晶圆。
优选地,所述底盘主体与所述辅料垫大小一致。
由于抛光件的设计,在垂直于所述抛光环的方向30°、40°、60°和90°处设置所述抛光头,在各个重要角度能够抛光晶圆的边缘,刚好满足抛光精度需求,既能提高工作效率、提高产能,又能减少材料浪费,降低抛光时间,抛光更加均匀,降低晶圆边缘的粗糙度,增设60°抛光头能有效修复加工过程导致晶圆倒角轮廓变形。
由于底盘的设计,减少了设备配件,降低生产成本,相比现有技术,方便了辅料垫的更换,提高了更换辅料垫的成功率,同时能够有效的延长辅料垫的寿命,降低生产成本,减小晶圆与辅料垫接触面的擦伤概率,降低接触面的颗粒度。
附图说明
图1是本实用新型实施例一种边缘抛光设备优化结构底盘结构示意图
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