[实用新型]一种透明材料残余应力的无损检测装置有效

专利信息
申请号: 202120559894.3 申请日: 2021-03-18
公开(公告)号: CN214427155U 公开(公告)日: 2021-10-19
发明(设计)人: 杨晓宇;衡月昆;李兆涵;王贻芳 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/02;G01L1/24;G01L5/00
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 庞许倩
地址: 100049 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 透明 材料 残余 应力 无损 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种透明材料残余应力的无损检测装置,其特征在于,包括:光源发生装置、系数标定机构和检测机构;

所述光源发生装置通过光纤与所述系数标定机构连接,以及,通过光纤与所述检测机构连接;

所述系数标定机构包括:

拉力机构,包括用于放置待检测透明材料标准件的第一样品槽,与该第一样品槽连接的丝杠,以及力学传感器;

测试光路机构,包括依次设置的第一起偏器、第一检偏器;所述第一样品槽设置于所述第一起偏器和第一检偏器之间;

所述检测机构,包括依次设置的第二起偏器、样品支撑结构和第二检偏器。

2.根据权利要求1所述的无损检测装置,其特征在于,所述测试光路机构还包括第一连接杆组、第一转接板、第一光纤固定结构、第一透镜镜架、第一聚焦透镜、第一偏振片镜架、第二偏振片镜架、第二转接板、第一衰减片镜架及第一衰减片;

所述第一转接板、第二转接板、第一透镜镜架、第一偏振片镜架及第二偏振片镜架的四个角位置处均设置有连接孔,所述第一连接杆组通过连接孔依次串接固定所述第一转接板、第一透镜镜架、第一偏振片镜架、第二偏振片镜架及第二转接板;

所述第一光纤固定结构卡合连接于所述第一转接板上;所述第一聚焦透镜内嵌于所述第一透镜镜架中;所述第一起偏器内嵌于第一偏振片镜架内,所述第一检偏器内嵌于第二偏振片镜架内,所述第一衰减片内嵌于所述第一衰减片镜架中,所述第一衰减片镜架卡合连接于所述第二转接板上。

3.根据权利要求2所述的无损检测装置,其特征在于,所述系数标定机构还包括固定部,该固定部包括第二连接杆组、转接立方体及两个转接板件;

所述转接立方体上设置有与第二连接杆组相对应的连接孔,所述第二连接杆组穿过该连接孔,且该第二连接杆组的两端分别与两个转接板件连接,每一转接板件的底部安装有支腿和支腿固定件;

所述转接立方体上还设置有与测试光路机构中第一连接杆组相对应的连接孔,所述第一连接杆组的一端穿入该连接孔。

4.根据权利要求1-3任一项所述的无损检测装置,其特征在于,所述系数标定机构还包括样品夹持件;所述拉力机构还包括凹面形机构壳体和数显表;

所述凹面形机构壳体的两侧面上方固定有两个连接杆,且两个连接杆处于同一水平平面;

所述第一样品槽包括第一固定部和第二固定部,该第一样品槽与所述样品夹持件相匹配;

所述第一固定部活动连接于所述两个连接杆上,所述第二固定部固定连接于所述两个连接杆上,所述第一固定部与所述丝杠固定连接,所述第二固定部与所述力学传感器固定连接;

所述力学传感器与所述数显表通信连接。

5.根据权利要求2所述的无损检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括第三连接杆组、第三转接板、第二光纤固定结构、第二聚焦透镜、第二透镜镜架、第三偏振片镜架、第四连接杆组、第四转接板、第二衰减片镜架、第二衰减片以及第四偏振片镜架;

所述第三转接板、第二透镜镜架、第三偏振片镜架、第四转接板以及第四偏振片镜架的四个角位置处均设置有连接孔,所述第三连接杆组通过所述连接孔依次串接固定第三转接板、第二透镜镜架和第三偏振片镜架,所述第四连接杆组通过所述连接孔依次串接固定第四偏振片镜架和第四转接板;

所述第二光纤固定结构卡合连接于所述第三转接板上;所述第二聚焦透镜内嵌于所述第二透镜镜架中;所述第二起偏器内嵌于第三偏振片镜架内,所述第二检偏器内嵌于第四偏振片镜架内;所述第二衰减片内嵌于所述第二衰减片镜架中,所述第二衰减片镜架卡合连接于所述第四转接板上。

6.根据权利要求5所述的无损检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括支撑体,包括可伸缩的第一支撑部和连接杆固定架,用于支撑固定所述第三连接杆组和第四连接杆组。

7.根据权利要求1所述的无损检测装置,其特征在于,所述样品支撑结构包括可伸缩的第二支撑部和与其固定连接的第二样品槽,该第二样品槽的侧面设置有螺栓孔,通过该螺栓孔旋入螺栓,以固定待检测透明材料测试件。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所,未经中国科学院高能物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202120559894.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top