[实用新型]一种芯片上表面外观缺陷检测装置

权利要求书

1.一种芯片上表面外观缺陷检测装置，其特征在于：包括相机、光源组和支架，所述支架与所述相机相连，所述光源组包括垂直光源与零度光源，所述垂直光源与所述相机相连，所述垂直光源下方设置有支撑底座，所述零度光源设置于所述支撑底座上，所述相机与所述支架之间设置有多方位调节机构。

2.根据权利要求1所述的一种芯片上表面外观缺陷检测装置，其特征在于：所述支撑底座上设置有限位板，所述限位板上开设有置物槽，所述置物槽位于所述零度光源中间部位。

3.根据权利要求2所述的一种芯片上表面外观缺陷检测装置，其特征在于：所述置物槽四周设置有导向坡面，所述导向坡面向所述置物槽内倾斜。

4.根据权利要求2所述的一种芯片上表面外观缺陷检测装置，其特征在于：所述限位板上设置有螺丝沉头孔，所述螺丝沉头孔与所述置物槽相通。

5.根据权利要求1所述的一种芯片上表面外观缺陷检测装置，其特征在于：所述多方位调节机构包括第一调节机构，所述第一调节机构包括第一丝杆螺母、第一丝杆和第一丝杆固定座，所述第一丝杆固定座与所述支架相连，所述第一丝杆与所述第一丝杆固定座转动连接，所述第一丝杆螺母与所述第一丝杆螺纹连接，所述第一丝杆螺母通过连接条与所述相机相连。

6.根据权利要求5所述的一种芯片上表面外观缺陷检测装置，其特征在于：所述多方位调节机构还包括第二调节机构，所述第二调节机构与所述连接条相连，所述第二调节机构通过连接板与所述相机相连。

7.根据权利要求6所述的一种芯片上表面外观缺陷检测装置，其特征在于：所述多方位调节机构还包括第三调节机构，所述第三调节机构与所述连接板相连，所述第三调节机构通过连接块与所述相机相连。

8.根据权利要求1所述的一种芯片上表面外观缺陷检测装置，其特征在于：所述光源组为环形光源。

9.根据权利要求1所述的一种芯片上表面外观缺陷检测装置，其特征在于：所述垂直光源为白光光源。

10.根据权利要求1所述的一种芯片上表面外观缺陷检测装置，其特征在于：所述零度光源为红光光源。