[实用新型]插入损耗测试工装和测试装置有效

专利信息
申请号: 202120612403.7 申请日: 2021-03-26
公开(公告)号: CN213302369U 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 黄敏超 申请(专利权)人: 敏业信息科技(上海)有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R31/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 骆希聪
地址: 201201 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 插入损耗 测试 工装 装置
【说明书】:

实用新型提供了一种插入损耗测试工装和测试装置。插入损耗测试工装包括跟踪源连接端、射频信号连接端以及至少一个单元模块,每个单元模块包括第一继电器、第二继电器、第一阻抗、第二阻抗和连接器。连接器的第一至第四引脚适于连接待测部件;第一继电器的中心端与连接器的第二引脚连接,上切端与连接器的第一引脚及跟踪源连接端连接,下切端与第一阻抗的一端连接。第二继电器的中心端与连接器的第三引脚连接,下切端与连接器的第四引脚及射频信号连接端连接,上切端与第二阻抗的一端连接。本实用新型的插入损耗测试工装和测试装置可以自动更换待测部件的连接方式,从而节省人工成本以及接线和测试时间,并确保测试结果不受人为因素影响。

技术领域

本实用新型主要涉及电磁兼容测试领域,尤其涉及一种插入损耗测试工装和测试装置。

背景技术

EMC滤波器由共模电感、差模电感、X电容、Y电容等EMC滤波器件组成。插入损耗被公认为设计和选型EMC滤波器件最直观最有效的测试指标。

依据国标GB/T7343:2017,“无源EMC器件抑制特性的测量方法”提出插入损耗需要分成共模插入损耗和差模插入损耗,用来分别评估对共模噪声和差模噪声的抑制效果。

然而,共模插入损耗和差模插入损耗的测试连接方式不同,要完成一款二线或四线滤波器或者滤波电感的共模插入损耗和差模插入损耗测试,不仅需要人工操作插入损耗测试仪,而且需要更换待测部件的连接方式。在大批量生产时,需要花费大量的时间来操作仪器和改变待测部件的连接方式。这样的方式使得生产的品质检测时间变成提高批量生产效率的瓶颈。为缩短测试时间,即使添加插入损耗测试设备和测试人员,还是会受到更换连接方式所需要花费的时间的限制。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种插入损耗测试工装和测试装置,可以实现自动更换待测部件的连接方式,从而大幅度地节省人工成本以及接线和测试时间,并确保测试结果不受人为因素影响。

为解决上述技术问题,本实用新型提供了一种插入损耗测试工装,包括跟踪源连接端、射频信号连接端以及至少一个单元模块。每个单元模块包括:第一继电器、第二继电器、第一阻抗、第二阻抗和连接器,其中:所述连接器的第一引脚、第二引脚、第三引脚和第四引脚适于连接待测部件;所述第一继电器的中心端与所述连接器的第二引脚连接,所述第一继电器的上切端与所述连接器的第一引脚及所述跟踪源连接端连接,所述第一继电器的下切端与所述第一阻抗的一端连接,所述第一阻抗的另一端接地;以及所述第二继电器的中心端与所述连接器的第三引脚连接,所述第二继电器的下切端与所述连接器的第四引脚及所述射频信号连接端连接,所述第二继电器的上切端与所述第二阻抗的一端连接,所述第二阻抗的另一端接地。

在本实用新型的一实施例中,还包括第一射频开关和第二射频开关,所述第一射频开关和第二射频开关各自包括一路输入端和多路输出端,所述跟踪源连接端连接所述第一射频开关的输入端,每个单元模块的第一继电器的上切端连接所述第一射频开关的其中一路输出端,所述射频信号连接端连接所述第二射频开关的输入端,每个单元模块的第二继电器的下切端连接所述第二射频开关的其中一路输出端。

在本实用新型的一实施例中,所述第一继电器和第二继电器的控制端用于连接到执行插入损耗测试的上位机。

在本实用新型的一实施例中,所述第一射频开关和第二射频开关的控制端用于连接到执行插入损耗测试的上位机。

在本实用新型的一实施例中,所述跟踪源连接端用于连接到跟踪源。

在本实用新型的一实施例中,所述射频信号连接端用于连接到射频信号接收器。

为了解决以上的技术问题,本实用新型还提出了一种插入损耗测试装置,包括:插入损耗测试仪,所述插入损耗测试仪具有跟踪源和射频信号接收器;上述插入损耗测试工装,所述插入损耗测试工装的跟踪源连接端连接所述跟踪源,所述插入损耗测试工装的射频信号连接端连接所述插入损耗测试仪的射频信号接收器;以及上位机,连接所述插入损耗测试工装。

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