[实用新型]芯片测试设备、系统、芯片及蓝牙耳机

说明书

本申请涉及一种芯片测试设备、系统、芯片及蓝牙耳机。其中，芯片测试设备包括控制单元、扫描链、数据选择设备和寄存器设备；数据选择设备包括第一数据选择器、第二数据选择器和第三数据选择器；寄存器设备包括第一寄存器和第二寄存器；在芯片内部引入输入旁路直接连通到芯片扫描输出的路径，可以将自动化测试设备寄生应引起时序变化导致的失效与芯片本身缺陷引起的失效区分开，便于快速定位失效原因。芯片测试数据通过自动测试设备发送，只经过两级移位寄存器，便于同时观察自动测试设备的输入/输出状态，没有经过扫描链而直接送出，可以快速将扫描链的缺陷引起的失效与测试机的寄生干扰引起的失效区分开。

技术领域

本申请涉及集成电路技术领域，特别是涉及一种芯片测试设备、系统、芯片及蓝牙耳机。

背景技术

随着现在集成电路的规模越来越大，在电路中植入移位寄存器，从而从外部控制和观测电路的扫描链测试(scan chain)可以有效简化测试开发的难度。传统扫描链测试原理如下：将数字电路中的寄存器替换成扫描寄存器后(scan replace)，将片上的扫描寄存器的Q和SI串起来形成一条扫描链。

在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：传统扫描链测试结构无法区分故障原因。

实用新型内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够区分故障原因的芯片测试设备、系统、芯片及蓝牙耳机。

为了实现上述目的，一方面，本实用新型实施例提供了一种芯片测试设备，包括控制单元、扫描链、数据选择设备和寄存器设备；数据选择设备包括第一数据选择器、第二数据选择器和第三数据选择器；寄存器设备包括第一寄存器和第二寄存器；

第一寄存器的输入端用于连接自动化测试设备，输出端连接第一数据选择器的第一输入端；第一数据选择器的第二输入端用于连接自动化测试设备，输出端连接第二数据选择器的第一输入端和扫描链的输入端；第二数据选择器的第二输入端连接扫描链的输出端，输出端分别连接第二寄存器的输入端和第三数据选择器的第一输入端；第二寄存器输出端连接第三数据选择器的第二输出端；第三数据选择器的输出端用于连接自动化测试设备；控制单元分别连接第一数据选择器的使能端、第二数据选择器的使能端和第三数据选择器的使能端。

在其中一个实施例中，第一寄存器的输入端包括第一D输入端和第一时钟信号输入端；第二寄存器的输入端包括第二D输入端和第二时钟信号输入端；第一D输入端、第一时钟信号输入端、第二D输入端和第二时钟信号输入端均用于连接自动化测试设备。

在其中一个实施例中，扫描链的数量为多个；

各扫描链的输入端连接第一数据选择器的输出端，输出端连接第二数据选择器的第二输入端。

在一个实施例中，还包括扫描控制开关；扫描控制开关与扫描链一一对应；

第一数据选择器的输出端通过对应的扫描控制开关连接各扫描链的输入端。

在一个实施例中，还包括解压单元和压缩单元；

第一数据选择器通过压缩单元连接扫描链的输入端；第二数据选择器通过解压单元连接扫描链的输出端。

在一个实施例中，第一寄存器和第二寄存器均为D型触发器

一方面，本实用新型实施例还提供了一种芯片测试系统，包括自动化测试设备以及多个如上述任一项的芯片测试设备。

在一个实施例中，芯片测试系统还包括逻辑状态配置单元；

逻辑状态配置单元用于配置第一数据选择器的使能端、第二数据选择器的使能端和第三数据选择器的使能端。

一方面，本实用新型实施例还提供了一种芯片，包括多个如上述任一项的芯片测试设备。