[实用新型]一种电子探针薄片样品台

说明书

本实用新型公开了一种电子探针薄片样品台，包括滑轨座、竖向板、底座和设置在底座上的样品台，样品台的底部设置有连接部件，连接部件包括设置在样品台的底部且伸入底座内的套筒和穿设在套筒中的连接轴，连接轴伸出套筒的两端穿过底座，底座的顶部和套筒的顶部相齐平，样品台能绕连接轴旋转，套筒上设置有两个对称布设的限位块，底座中设置有与限位块配合的限位槽，连接轴能带动套筒靠近或者远离限位槽。本实用新型通过样品台的翻转以使电子探针薄片在安装到样品台的底部时测试面朝下，避免电子探针薄片的测试面受到测试人员接触而被污染，提高测试精度。

技术领域

本实用新型属于地质薄片分析技术领域，尤其是涉及一种电子探针薄片样品台。

背景技术

电子探针是一种可以用来分析薄片中矿物微区化学组成的分析仪器，因此在地质探测过程中需要将待研究分析的岩石和矿物制作成薄片，即电子探针薄片，电子探针薄片的长度一般为47mm～50mm，宽度不大于28mm，厚度1mm左右。目前电子探针薄片在安装到样品台的过程中，因为电子探针薄片的测试面朝上，测试面在安装过程中容易受到测试人员接触并被污染，从而造成测试的不准确。

因此，现如今缺少一种结构简单，设计合理的电子探针薄片样品台，通过样品台的翻转以使电子探针薄片在安装到样品台的底部时测试面朝下，避免电子探针薄片的测试面受到测试人员接触而被污染，而翻转后电子探针薄片的测试面朝上且顶部相齐平。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种电子探针薄片样品台，其结构简单，设计合理，通过样品台的翻转以使电子探针薄片在安装到样品台的底部时测试面朝下，避免电子探针薄片的测试面受到测试人员接触而被污染，而翻转后电子探针薄片的测试面朝上且顶部相齐平，可减少样品台在测试过程中频繁地聚焦，提高测试效率和测试精度。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种电子探针薄片样品台，其特征在于：包括滑轨座、设置在滑轨座上的竖向板、设置在竖向板上的底座和设置在底座上且与滑轨座顶部平行的样品台；

所述样品台的底部设置有与底座配合的连接部件，所述连接部件包括设置在样品台的底部且伸入底座内的套筒和穿设在套筒中的连接轴，所述连接轴伸出套筒的两端穿过所述底座，所述底座的顶部和套筒的顶部相齐平，所述样品台能绕连接轴旋转，所述套筒上设置有两个对称布设的限位块，所述底座中设置有与所述限位块配合的限位槽，所述连接轴能带动套筒靠近或者远离限位槽。

上述的一种电子探针薄片样品台，其特征在于：所述底座包括矩形座体和两个对称设置在矩形座体上的座体耳，两个座体耳和矩形座体围成供套筒安装的容纳腔，所述矩形座体和两个座体耳围成U形结构，所述限位槽位于矩形座体内，所述限位槽的长度小于两个座体耳之间的间距，所述连接轴伸出套筒的两端均穿过座体耳；

所述样品台上设置有第一开口部和第二开口部。

上述的一种电子探针薄片样品台，其特征在于：两个所述座体耳分别为左座体耳和右座体耳，所述左座体耳内设置有左腰形通孔，所述右座体耳内设置有右腰形通孔，所述连接轴穿过套筒的两端穿过左腰形通孔和右腰形通孔，且所述连接轴能沿左腰形通孔和右腰形通孔滑移，以使连接轴带动套筒靠近或者远离限位槽移动。

上述的一种电子探针薄片样品台，其特征在于：所述样品台的底部设置有左连接耳与右连接耳，所述套筒设置在左连接耳与右连接耳之间，所述左连接耳和右连接耳均位于容纳腔内，所述左连接耳的外侧壁和一个座体耳的内侧壁相贴合，所述右连接耳的外侧壁和另一个座体耳的内侧壁相贴合；

所述连接轴伸出套筒的一端依次穿过所述左连接耳和底座中的左腰形通孔，所述连接轴伸出套筒的另一端依次穿过所述右连接耳和底座中的右腰形通孔。