[实用新型]微波器件高温反偏老化测试系统有效

专利信息
申请号: 202120702091.9 申请日: 2021-04-07
公开(公告)号: CN214750606U 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 陈益敏 申请(专利权)人: 杭州高裕电子科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266 代理人: 沈相权;金磊
地址: 311107 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 微波 器件 高温 老化 测试 系统
【权利要求书】:

1.微波器件高温反偏老化测试系统,包括壳体(13),其特征在于:所述壳体(13)的材质为铝合金,所述壳体(13)的内侧面固定安装有散热翅片(6),所述壳体(13)的前端面转动安装有门板(17),所述门板(17)的后端面粘贴有耐磨软垫(5),所述耐磨软垫(5)的材质为丁基橡胶,所述门板(17)的内侧面固定安装有把手(16),所述把手(16)的材质为钛合金,所述门板(17)的内侧面转动安装有合页(4),所述门板(17)的下端面固定安装有第一散热孔(3),所述把手(16)远离第一散热孔(3)的一侧固定安装有安全警告标识(14)。

2.根据权利要求1所述的微波器件高温反偏老化测试系统,其特征在于:所述把手(16)远离合页(4)的一侧固定安装有控制器(15),所述合页(4)远离安全警告标识(14)的一侧活动安装有电源开关(12)。

3.根据权利要求2所述的微波器件高温反偏老化测试系统,其特征在于:所述电源开关(12)远离合页(4)的一侧固定安装有指示灯(11),所述指示灯(11)的下端面固定安装有显示屏(10)。

4.根据权利要求3所述的微波器件高温反偏老化测试系统,其特征在于:所述显示屏(10)的下端面开设有第二散热孔(9),所述第二散热孔(9)的下端面开设有插入孔(8),所述插入孔(8)的下端面固定安装有固定板(7)。

5.根据权利要求1所述的微波器件高温反偏老化测试系统,其特征在于:所述壳体(13)的下端面焊接有支撑杆(1),所述支撑杆(1)的材质为奥氏体不锈钢。

6.根据权利要求5所述的微波器件高温反偏老化测试系统,其特征在于:所述支撑杆(1)的一侧转动安装有万向轮(2),所述万向轮(2)与支撑杆(1)的数量均为四组,所述万向轮(2)与支撑杆(1)均关于壳体(13)的竖直中心线对称分布。

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