[实用新型]一种四线测试微针模组

权利要求书

1.一种四线测试微针模组，其特征在于，包括栽板、针板、基座板、底板和若干测试针；所述栽板上设置有用于放置和定位产品的容置槽，所述栽板设置在所述针板上，并且所述栽板与针板之间设置有弹力柱，所述针板设置在所述基座板上，所述基座板与所述底板之间通过调节支撑柱活动连接；若干所述测试针固定在所述针板上，并且所述测试针的一端延伸至所述栽板上用于与产品接触，另一端延伸至所述底板上并用于与转接PCB板接触；其中，

所述转接PCB板包括第一转接PCB板和第二转接PCB板，所述第一转接PCB板和第二转接PCB板层叠在一起，并且所述第一转接PCB板和第二转接PCB板之间设置有绝缘层，若干所述测试针的一部分与所述第一转接PCB板接触，若干所述测试针的另一部分穿过所述第一转接PCB板与所述第二转接PCB板接触。

2.根据权利要求1所述的一种四线测试微针模组，其特征在于：所述针板与基座板之间通过定位螺栓连接。

3.根据权利要求1所述的一种四线测试微针模组，其特征在于：所述栽板与所述针板之间还设置有定位销。

4.根据权利要求1所述的一种四线测试微针模组，其特征在于：所述调节支撑柱包括第一调节支撑件和第二调节支撑件，所述第一调节支撑件和第二调节支撑件之间通过螺牙可调节连接。

5.根据权利要求1所述的一种四线测试微针模组，其特征在于：所述基座板上设置有让位凹槽，所述让位凹槽便于所述测试针延伸至所述栽板和底板上。

6.根据权利要求1所述的一种四线测试微针模组，其特征在于：所述栽板上位于所述测试针与产品接触的区域设置有第一容置孔。

7.根据权利要求1所述的一种四线测试微针模组，其特征在于：所述底板上位于所述测试针与所述转接PCB板接触的区域设置有第二容置孔。

8.根据权利要求1所述的一种四线测试微针模组，其特征在于：所述第一转接PCB板上设置有便于所述测试针穿过的通孔，并且所述测试针不与所述第一转接PCB板接触。

9.根据权利要求8所述的一种四线测试微针模组，其特征在于：所述通孔涂有绝缘材料。