[实用新型]一种单层片式瓷介电容器测试夹具

说明书

一种单层片式瓷介电容器测试夹具，包括压臂、活动连接通孔、测试压杆、升降弹簧、底座、测试探针、防静电测试底板、接口板、支撑架固定螺孔、支撑架、测试杆固定装置、活动连接杆；所述压臂包括压臂压板、压臂顶板、压臂顶板通孔；接口板具有BNC接口端；支撑架通过支撑架固定螺孔固定在底座上；支撑架、与压臂通过活动连接通孔及活动连接杆连接；测试压杆具备上下弹压功能；接口板的BNC接头通过BNC转接线连接至测试仪表。解决了现有测试夹具不能测试大尺寸单层片式瓷介电容器及多电极片式单层瓷介电容器的问题。广泛应用于各种尺寸单层片式瓷介电容器及多电极片式瓷介电容器的测试，通用性强，对测试产品电极无损伤，安全性及可靠性高。

技术领域

本实用新型涉及瓷介电容器领域，具体来说，涉及片式瓷介电容器领域，更进一步来说，涉及单层片式瓷介电容器测试夹具。

背景技术

在现有片式瓷介电容器的测试中，如图1所示，根据片式瓷介电容器的尺寸及电极尺寸，测试夹具通常采用φ0.5mm顶针式设计，片式瓷介电容器垂直放于夹具测试凹槽中，测试夹具的测试顶针分别从两端通过凹槽接触片式瓷介电容器的两个电极，对片式瓷介电容器进行测试。且测试凹槽深度小于1.5mm，测试范围为边长0.25mm到1.2mm之间的方形产品。由于电子技术的不断发展，在不同的使用场合，对片式瓷介电容器的尺寸及性能要求差别很大，对于多电极片式瓷介电容器、边长大于2.5mm或长宽比大于6的大尺寸单层片式瓷介电容器，现有夹具无法测试。

有鉴于此，特提出本实用新型。

发明内容

本实用新型要解决的问题是解决大尺寸单层片式瓷介电容器、多电极片式单层瓷介电容器的测试问题。

为此，本实用新型所采取的技术方案是提供一种单层片式瓷介电容器的测试夹具，夹具示意图如图2、图3所示。包括压臂1，活动连接通孔2，测试压杆3，升降弹簧4，底座5，测试探针6，防静电测试底板7，接口板8，支撑架固定螺孔9，支撑架10，测试杆固定装置11，活动连接杆12。

所述压臂1包括压臂压板101、压臂顶板102、压臂顶板通孔103，主要作用是使测试压杆3上下移动。

所述接口板8具有HCurBNC接口端801、HPotBNC接口端802、LCurBNC接口端803、LPotBNC接口端804。

所述支撑架10具有支撑架U型槽1001、U型槽底端通孔1002, 所述支撑架通过支撑架固定螺孔固定在底座上，位置可调。主要用于支撑测试压杆3、测试探针6以及LCur、LPot测试信号线。

测试探针6装配在测试压杆3上，测试探针6的尾部通过屏蔽线连接至接口板8的LCur、LPot两个BNC接口端。

测试压杆3、支撑架10、与压臂1通过活动连接通孔2及活动连接杆12连接。

升降弹簧4位于支撑架U型槽1001中。

测试压杆3穿过压臂1顶板通孔103、U型槽底端通孔1002及升降弹簧4，并通过测试杆固定装置11固定在压臂1顶板通孔103内，使测试压杆3具备上下弹压功能。

防静电测试底板7为塑料片外包镀金铜片构成，防静电测试底板7背面的镀金铜片通过屏蔽线连接至接口板的HCur、HPot两个BNC接口端。

底座5内部采用铝箔粘贴进行屏蔽处理，保证电容器在测试过程中不会受到外界的电磁干扰。

接口板8具有4个BNC接口端，BNC接口端通过BNC转接线连接至测试仪表。