[实用新型]隧道式测试装置

说明书

一种隧道式测试装置，包括一隧道式炉体，其至少包括一低温测试区、一回温区、一升温区，以及一高温测试区，其为依序排列而成，其中低温测试区设定为对一待测物，在一预定的低温环境下进行低温测试，而高温测试区设定为对该待测物在一预定的高温环境下进行高温测试；以及一输送装置，贯穿该隧道式炉体，用以将承载待测物的一托盘，输送至隧道式炉体的内部进行测试。该回温区及该升温区分别包括一加热灯，用以在该预定的低温环境下分别对该待测物进行加热，使其表面温度自该预定的低温上升至一常温，以及使其表面温度自该常温上升至该预定的高温。

技术领域

本实用新型属于测试装置，尤指一种隧道式测试装置。

背景技术

已知在集成电路和电路模块制造中，当产品完成后需要做一连串的测试，比如：老化测试(Aging Test)、寿命测试(Life Test)、温度循环测试(Temperature CyclingTest)、热冲击测试(Thermal Shock Test)、功能测试(function Test)、速度测试(SpeedTest)等，以测试产品之功能及可靠度(reliability)。在这些测试中，功能测试为电子产品的品质测试中非常重要的一环。功能测试是指在高温、低温或常温下，模拟产品在正常工作状况下的极限条件。其目的乃是测试产品之功能，并进行筛检，以确保产品售出后之品质。因此，功能测试项目是必要的，以便让所有产品百分之百做检测。

传统上，集成电路，例如车用的集成电路的功能测试装置，乃是以一炉体来实现。炉体通常包括一加热器以及一制冷器，用以加热空气或冷却空气来提供功能测试时所需之环境温度，以及一风扇装置，用以将热风或冷风经由对流而输送至测试区域，借此以热风对待测物进行加热至所需的高温，或是以冷风对待测物进行冷却至所需的低温。然而，已知的功能测试装置，会花费20分钟的时间将炉体内部的测试空间的环境温度自室温下降到一个预定的低温，例如-40度，接着在该预定的低温环境下测试待测物，测试时间为1分钟，接下来，会花费20至30分钟的时间将测试空间的环境温度自该预定的低温，例如-40℃，上升至一个预定的高温，例如85℃，接着在该预定的高温测试待测物，测试时间为1分钟。因此，传统的功能测试装置，由于测试时间相当短，而测试空间的升温及降温程序所花费的时间相当长，会有相当长的时间浪费在等待测试空间的升温及降温上，造成时间的浪费以及成本效益的低落，以及测试装置的所需空间的大幅度增加。

因此，便有需要发展出一套隧道式测试装置。本发明可以满足这些需求。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的主要目的，在于提供一种隧道式测试装置，其能够降低测试装置的所需空间，并且增加测试空间的测试效率。

为了达成此目的，本实用新型提出一种隧道式测试装置，包括一隧道式炉体，其至少包括一低温测试区、一回温区、一升温区，以及一高温测试区，其为依序排列而成，其中该低温测试区设定为对至少一个待测物，在一预定的低温环境下进行低温测试，而该高温测试区设定为对该至少一个待测物，在一预定的高温环境下进行高温测试；以及一输送装置，设置为贯穿该隧道式炉体，用以将承载至少一个待测物的至少一个托盘，输送至该隧道式炉体的内部进行测试。该回温区及该升温区分别包括一加热灯，用以在该预定的低温环境下分别对该至少一个待测物进行加热，使其表面温度自该预定的低温上升至一常温，以及使其表面温度自该常温上升至该预定的高温。

根据本实用新型，该隧道式测试装置，还包括一上料区，设置于该隧道式炉体的一入口，其设定为将该待测物放置在该托盘上；以及一下料区，设置于该隧道式炉体的一出口，其设定为将该待测物从该托盘上取出。该输送装置延伸至该上料区和该下料区。