[实用新型]一种用于分流电阻器的无损测试夹具

说明书

一种用于分流电阻器的无损测试夹具，包括:下压装置，样品固定装置，探针固定装置，PCB转接板，夹具底座，支撑架，固定杆，锁紧螺母；夹具自上而下包括下压装置、样品固定装置、探针固定装置、PCB转接板、夹具底座。将被测件放入上述的产品固定座内，所述的下压装置将产品下压固定，所述的测试探针接触产品后收缩，测试信号通过所述的转接PCB和测试线缆传输到仪表进行测试。探针为镀金探针，通过四线开尔文方式分布，实现四线开尔文电阻测试，解决了现有技术中分流电阻器的测量误差较大、测量精度低、高低温测试不准确、测试一致性和重复性差的问题。广泛应用于分流电阻器的无损测试。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件领域，具体来说，涉及电阻器领域，更进一步来说，涉及电阻器的测试领域。

背景技术

分流电阻器的特点为电阻值小（最低至0.1Ω），阻值精度高（最低至±1%），温度系数小（最低至50ppm/℃），功率大（最高至15W）。目前，对分流电阻器的测试并没有一个统一的工装夹具，主要采用普通电阻的测试夹具对分流电阻器进行测量，存在的问题是：测试一致性和重复性差、测量误差较大、测量精度不高、高低温测试不准等问题。为此，特提出本实用新型。

发明内容

本实用新型的目的是：解决现有技术中分流电阻器的测试一致性和重复性差、测量误差较大、测量精度不高、高低温测试不准的问题。

为解决此问题，本实用新型提供了一种用于分流电阻器的无损测试夹具，测试夹具结构示意图如图1、图2所示。夹具自上而下包括：

下压装置1，样品固定装置2，探针固定装置3， PCB转接板4，夹具底座5，支撑架6，固定杆7，锁紧螺母8。

所述下压装置1包括：面板本体100，下限位孔101，上限位孔102，活动压杆103，下压装置固定螺孔104，下压装置调节机构105，绝缘圆柱压块106，限位盘107，弹簧108。所述面板本体100为型结构，两端为下限位孔101，和上限位孔102，面板本体100的型底部设有安装孔用于安装下压装置调节机构105。限位盘107位于弹簧108上端，放置于面板本体100型槽中。活动压杆103穿过上限位孔102、下限位孔101、限位盘107及弹簧108，活动压杆103下端与绝缘圆柱压块106连接。下压装置1通过面板本体100的下压装置固定螺孔104固定于支撑架6上。下压装置1将活动压杆103与绝缘圆柱压块106向下压出，用于压紧下方的测试样品9，测试结束后通过弹簧108返回原位。

所述样品固定装置2包括：导向定位槽201，样品固定座202，样品固定装置本体203，样品固定装置装配孔204，测试探针通孔205，台阶孔206，样品夹槽207。导向定位槽201制作于样品固定装置本体203的上表面，样品固定座202根据测试样品9的形状进行开口，垂直固定于导向定位槽201的正上方，与样品固定装置本体203的上表面形成样品夹槽207，用于固定测试样品。

所述探针固定装置3包括：探针固定座301，探针302，探针固定装置本体303，探针固定装置装配孔304，PCB转接板安装孔305。探针固定座301固定于探针固定装置本体303的上表面，探针302穿过探针固定座301的探针孔进行固定。

所述PCB转接板4包括：PCB本体400、F+探针焊接盘401， S+探针焊接盘402， S-探针焊接盘403， F-探针焊接盘404， F+测试线缆焊接盘405， S+测试线缆焊接盘406， S-测试线缆焊接盘407， F-测试线缆焊接盘408， PCB转接盘通孔409。PCB转接板4的F+探针焊接盘401、S+探针焊接盘402、S-探针焊接盘403、F-探针焊接盘404分别与4根探针302的尾部端头焊接，F+测试线缆焊接盘405、 S+测试线缆焊接盘406、 S-测试线缆焊接盘407、 F-测试线缆焊接盘408分别焊接测试线缆，通过测试线缆与开尔文电阻没底仪连接。PCB转接板4通过PCB转接盘通孔409、PCB转接板安装孔305固定于探针固定装置3的底面。