[实用新型]一种化验分析称量电子天平

说明书

本实用新型公开了一种化验分析称量电子天平，包括装置主体和清理片，所述装置主体上方安装有刮片，且刮片一侧连接有第一支撑带，并且第一支撑带一侧连接有转动轴，所述转动轴中间连接有第二支撑带，且转动轴一侧固定连接有转动块，并且第二支撑带一侧连接有开合盖，所述清理片底部连接有传输块，且清理片一侧安装有固定块。该化验分析称量电子天平，在使用的过程中，可将化验物品直接放置在天平上，有利于去除化验杯烧杯等对天平的影响，提高电子天平的测量结果准确性，便于工作人员使用便利，化验物品直接在天平上化验后，将容器放置在出料口，接取物品，便于简化工作流程，提高了工作效率。

技术领域

本实用新型涉及电子天平技术领域，具体为一种化验分析称量电子天平。

背景技术

天平是一种用于质量(重量)测量的一种衡器，在日常生活中也较为常见，为了满足精确测量的要求，尤其是实验室测量的要求，出现了电子天平，该天平是传感技术、模拟电子技术和微处理器技术发展的综合产物，具有自动数据输出、自动故障寻迹、超载保护等多功能，是实验室定量分析工作中不可缺少的仪器，但是目前市场上的电子天平还是存在以下的问题：

1、现有的化验分析称量电子天平在工作过程中非常容易受到外界调节的影响，例如化验杯、实验纸以及包装袋等等，都会使得电子天平的称重产生波动，容易影响电子天平的称重准确性；

2、在化验分析过程中，需要先将化验杯放置在电子天平上方，测量电子天平的重量，后再加入化验物品，减去化验杯重量，使用过程繁琐且影响工作效率。

针对上述问题，在原有的电子天平的基础上进行创新设计。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种化验分析称量电子天平，以解决上述背景技术中提出的目前市场上常见的化验分析称量电子天平，现有的化验分析称量电子天平在工作过程中非常容易受到外界调节的影响，例如化验杯、实验纸以及包装袋等等，都会使得电子天平的称重产生拨动，容易影响电子天平的称重准确性，在化验分析过程中，需要先将化验杯放置在电子天平上方，测量电子天平的重量，后再加入化验物品，减去化验杯重量，使用过程繁琐且影响工作效率的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种化验分析称量电子天平，包括装置主体和清理片，所述装置主体上方安装有刮片，且刮片一侧连接有第一支撑带，并且第一支撑带一侧连接有转动轴，所述转动轴中间连接有第二支撑带，且转动轴一侧固定连接有转动块，并且第二支撑带一侧连接有开合盖，所述清理片底部连接有传输块，且清理片一侧安装有固定块。

优选的，所述刮片分前后两层，且刮片通过第一支撑带与转动轴呈收卷结构。

优选的，所述第二支撑带与开合盖的连接方式为固定连接，且第二支撑带一侧固定连接在转动轴中心点。

优选的，所述传输块一侧低于另一侧，并且传输块两侧呈“V”字形。

优选的，所述清理片与传输块的连接方式为滑动连接，且清理片顶部为磁石，并且清理片顶部与刮片相交，所述刮片底部为磁石。

优选的，所述固定块与传输块的连接方式为固定连接，且固定块位于清理片底部滑道顶端。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该化验分析称量电子天平，

1、在使用的过程中，可将化验物品直接放置在天平上，有利于去除化验杯烧杯等对天平的影响，提高电子天平的测量结果准确性，便于工作人员使用便利；

2、化验物品直接在天平上化验后，将容器放置在出料口，接取物品，便于简化工作流程，提高了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型整体正视结构示意图；

图2为本实用新型整体俯视结构示意图；

图3为本实用新型传输块与清理片侧视结构示意图；