[实用新型]一种ARM服务器外壳抗老化测试装置

说明书

本实用新型公开了一种ARM服务器外壳抗老化测试装置，包括外壳和圆壳，所述外壳内腔活动连接有圆壳，所述圆壳的内腔侧壁上设置有老化设备，所述圆壳的左侧壁中心活动连接有转轴，所述转轴的左端与外壳内腔左侧壁活动连接，所述转轴的右端延伸到外壳内腔并固定连接有固定板。本实用新型通过设置有夹紧机构，夹紧机构位于固定板自上而下设置，可以单次实现对多种规格的ARM服务器外壳进行固定测试操作，充分利用设备空间，提高测试效率；通过设置有驱动机构和圆壳，通过驱动机构可以实现圆壳和转轴的反向转动，可以实现对ARM服务器外壳充分的测试操作，使得测试效果好。本实用新型具有测试效率高和效果好的优点。

技术领域

本实用新型涉及老化测试，尤其涉及一种ARM服务器外壳抗老化测试装置。

背景技术

ARM服务器是一种“模块组成的计算机”，好似由许多小智能手机主板堆砌起来的“物理组合物”（相互之间有光纤连接）。现有技术之中的ARM服务器在使用时都是被安装在指定的外壳内部，通过外壳可以有效的避免外部环境对ARM服务器内部设备的损坏，因此对ARM服务器外壳进行老化测试十分的必要。现有技术之中对的老化设备在使用时ARM服务器外壳只能静置在设备内部，这样不能很好和全面的对其进行老化测试，降低测试精度，还有就是，现有技术的老化设备对于其内部空间利用不合理，只能对单一的ARM服务器外壳进行测试操作，极大降低了测试的效率，不利于使用，这是现有技术的不足。基于以上的原因，本实用新型提出一种ARM服务器外壳抗老化测试装置来解决现有技术的不足。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的之一在于提供一种ARM服务器外壳抗老化测试装置。

本实用新型的目的之一采用如下技术方案实现：

一种ARM服务器外壳抗老化测试装置，包括壳体，所述壳体内腔活动连接有圆壳，所述圆壳的内腔侧壁上设置有老化装置，所述圆壳的左侧壁中心活动连接有转轴，所述转轴的左端与壳体内腔左侧壁活动连接，所述转轴的右端延伸到壳体内腔并固定连接有固定板，所述固定板上均匀分布设置有若干个夹紧机构，所述壳体的底面上设置有驱动机构，所述壳体的右侧壁不封闭设置，所述壳体的右侧活动连接门板，，所述壳体的底面上固定连接有支撑腿。

进一步的，所述夹紧机构包括活动槽，所述固定板的右侧壁自上而下均匀分布开设有若干个活动槽，所述活动槽内前后对称活动连接有两个活动块，所述活动块上设置有定位机构，所述活动块远离活动槽中心一侧均固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧另一端分别与活动槽的前后侧壁固定连接，所述活动块的右侧壁中心均固定连接有横杆，所述横杆的上下两侧对称设置有夹板，所述夹板靠近横杆一侧的侧壁上左右对称开设有两个圆孔，所述圆孔内活动连接有圆杆，所述圆杆位于圆孔内腔一端固定连接有第二弹簧，所述第二弹簧另一端与圆孔底面固定连接，所述圆杆远离第二弹簧一端延伸出圆孔与横杆固定连接。

进一步的，所述驱动机构包括电机，所述电机与壳体底面固定连接，所述电机的转子上固定连接有圆轴，所述圆轴的侧壁上自左向右依次固定连接有链轮和第一齿轮，所述圆轴位于壳体和圆壳之间的侧壁上固定连接有另一链轮，所述壳体底面上开设有通槽，两个所述链轮之间通过链条传动连接，所述链条贯穿通槽设置，所述圆壳外侧壁靠近左侧处固定连接有环形齿轮，所述第一齿轮贯穿通槽与环形齿轮相互啮合设置。

进一步的，所述壳体内腔侧壁上均匀分布固定连接有若干个固定块，所述圆壳的外侧壁上开设有圆槽，所述固定块与圆槽之间活动连接。

进一步的，所述定位机构包括侧孔，所述活动块的左侧壁中心开设有侧孔，所述侧孔内活动连接有活动杆，所述活动杆位于侧孔内腔一端固定连接有第三弹簧，所述第三弹簧另一端与侧孔的右侧壁固定连接，所述活动杆远离第三弹簧一端延伸出侧孔固定连接有卡齿，所述活动槽的侧壁上均匀分布开设有若干个卡槽，所述卡齿与卡槽相互匹配设置。

进一步的，所述夹板截面呈L形设置。

进一步的，所述门板的侧壁上固定连接有把手。