[实用新型]一种匀强磁场磁电测试与观测装置

说明书

本实用新型公开一种匀强磁场磁电测试与观测装置，其包括载物平台、光学观测系统、磁场发生系统、磁电检测系统；所述光学观测系统包括设置在所述载物平台上方的单筒显微镜，设置在所述单筒显微镜上的CCD相机、与所述CCD相机电连接的计算机；所述磁场发生系统包括至少一个非接触套设在所述载物平台上的亥姆霍兹线圈以及与所述亥姆霍兹线圈电连接的直流可编程电源；所述磁电检测系统包括精密可编程电源、与所述精密可编程电源电连接的台式高斯计，以及与所述台式高斯计电连接的高斯计探头。本实用新型提供的装置集成了宏观和微观性能测试于一体，可以对比微观结构和宏观信号，其提高了微观电子元器件的检测效率，为微机电磁电系统测试提供了方便。

技术领域

本实用新型涉及磁电测试系统技术领域，特别涉及一种匀强磁场磁电测试与观测装置。

背景技术

随着微流控技术的发展，越来越多的人开始拓展微流控芯片的应用及其性能的测试。由于微流控芯片内部结构精密，尺寸较小，针对其性能全面探索成为了一个复杂的难题。针对一些透光性较差的流体，需要在磁场下研究并定量测试其电学性能，这给微流控芯片的性能测试带来了更多的挑战。

目前，针对一些微流控芯片内部的流动分析，人们大多在显微镜下进行定性观测，其中包括气泡、液滴、细胞、病毒的行为和动作观测等。然而，定性研究捕捉的细节较少，研究获得结论不完善。如何在显微镜下进行定量的研究微流控芯片的内部流动以及芯片的性能，成为了一个重要的挑战。针对一些微流控芯片内部的透光性较差流体，进行磁电测试和观测，微观定性观察和宏观性能对比的检测，均是亟需解决的问题。如何产生均匀的磁场，如何布置观测电路，如何同时捕捉微观动作和宏观电信号，是本实用新型需要解决的问题。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种匀强磁场磁电测试与观测装置，旨在解决观测装置无法定量的研究微流控芯片的内部流动以及芯片性能的问题。

本实用新型的技术方案如下：

一种匀强磁场磁电测试与观测装置，其中，包括载物平台、光学观测系统、磁场发生系统、磁电检测系统；所述光学观测系统包括设置在所述载物平台上方的单筒显微镜，设置在所述单筒显微镜上的CCD相机、与所述CCD相机电连接的计算机；所述磁场发生系统包括至少一个非接触套设在所述载物平台上的亥姆霍兹线圈以及与所述亥姆霍兹线圈电连接的直流可编程电源；所述磁电检测系统包括精密可编程电源、与所述精密可编程电源电连接的台式高斯计，以及与所述台式高斯计电连接的高斯计探头。

所述的匀强磁场磁电测试与观测装置，其中，所述光学观测系统还包括设置在所述载物平台下方的可调光源，以及与所述可调光源电连接的光源调节器。

所述的匀强磁场磁电测试与观测装置，其中，所述光学观测系统还包括设置在所述载物平台下方且用于支撑所述载物平台的载物平台左支架和载物平台右支架，所述载物平台左支架上设置有手动精密微调工作台，所述载物平台的左端固定在所述手动精密微调工作台上，所述载物平台右支架上设置有水平滑轨，所述载物平台的右端固定在所述水平滑轨上。

所述的匀强磁场磁电测试与观测装置，其中，所述光学观测系统还包括固定底座、固定设置在所述固定底座上的支架竖直杆、设置在所述支架竖直杆上的支架水平杆、设置在所述支架水平杆上的支架滑轨，以及设置在所述支架滑轨上的显微镜支架，所述显微镜支架用于安装单筒显微镜。

所述的匀强磁场磁电测试与观测装置，其中，所述单筒显微镜包括单筒显微镜筒以及安装在所述单筒显微镜镜筒下方的物镜。

所述的匀强磁场磁电测试与观测装置，其中，所述载物平台上设置有定位钻孔。

所述的匀强磁场磁电测试与观测装置，其中，所述磁场发生系统还包括用于检测所述亥姆霍兹线圈温度的温度传感器，以及与所述温度传感器电连接的温度报警器。