[实用新型]一种二极管性能检测用引脚夹持结构

权利要求书

1.一种二极管性能检测用引脚夹持结构，其特征在于：包括装置块(1)，所述装置块(1)的前端开设有滑槽(4)，所述滑槽(4)的左右内壁之间转动连接有螺杆(10)，所述螺杆(10)的圆周表面通过丝杆螺母螺纹连接有活动块(11)，所述活动块(11)的前后两端均固定连接有移动卡块(5)，所述装置块(1)的前后两端均固定连接有第一卡块(7)，所述装置块(1)的左端固定连接有薄板，所述薄板的上下两端分别固定连接有第一盒体(12)和第二盒体(13)，所述薄板的上端固定连接有固定板(17)，所述薄板的上端开设有两个插接孔(14)，所述螺杆(10)的左端活动贯穿第一盒体(12)的右内壁并固定连接有蜗杆(15)，所述第一盒体(12)的上内壁与第二盒体(13)的下内壁之间转动连接有转轴，所述转轴的圆周表面固定连接有蜗轮(16)和齿轮(20)，所述蜗轮(16)的圆周表面与蜗杆(15)的圆周表面相啮合，所述薄板的下端固定连接有第二卡块(18)，所述第二盒体(13)的右内壁固定连接有滑杆，所述滑杆的圆周表面滑动连接有传动卡块(19)，所述传动卡块(19)的前端与齿轮(20)的圆周表面相啮合。

2.根据权利要求1所述的一种二极管性能检测用引脚夹持结构，其特征在于：所述螺杆(10)的右端活动贯穿装置块(1)的右端并向右延伸，所述螺杆(10)的右端固定连接有旋钮(3)。

3.根据权利要求2所述的一种二极管性能检测用引脚夹持结构，其特征在于：所述装置块(1)的前后两端上部均开设有限位槽(8)，两个所述限位槽(8)的左右内壁之间均固定连接有限位杆(9)。

4.根据权利要求3所述的一种二极管性能检测用引脚夹持结构，其特征在于：两个所述移动卡块(5)的相靠近端均固定连接有限位块，两个所述限位块分别滑动连接于两个限位杆(9)的圆周表面。

5.根据权利要求4所述的一种二极管性能检测用引脚夹持结构，其特征在于：所述装置块(1)的下端前后两部均固定连接有支撑脚(6)。

6.根据权利要求5所述的一种二极管性能检测用引脚夹持结构，其特征在于：所述装置块(1)的上端左部开设有卡槽(2)。