[实用新型]一种芯片检测装置的上料机构

说明书

本实用新型公开了一种芯片检测装置的上料机构，包括支撑桌，所述支撑桌的顶部滑动连接有检测台，所述检测台上表面的一侧固定有插座，所述检测台上表面的中部固定有输料板，所述输料板的中部通过轴承转动连接有用于进行芯片上料工作的上料机构，所述支撑桌的一侧设置有芯片卷带，所述上料机构包括转轴、链轮、链条、电机、导向框、第一滑轨、移动块、连接柱、连接杆和真空吸嘴，所述输料板的四角通过轴承对称转动连接有转轴，所述转轴靠近插座的一侧固定有链轮，本实用新型通过一个电机和一个线性电机就能够完成芯片检测时的上料工作，相较于传统的上料机构极大的节省了成本。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，具体为一种芯片检测装置的上料机构。

背景技术

在半导体芯片制造完成后工厂一般需要对半导体芯片进行测试，而测试通产包含多种测试，其中一项是对齐通电情况进行测试，目前半导体芯片通电情况的测试中，测试机需要将芯片压入PCB测试板上的插座的凹槽内，使芯片上的触点与插座的针脚相连，插座上的针脚与PCB电路板的触点相连，此时形成通路，然后在PCB测试板上输入一定电压查看输出的情况，不同的电压会产生不同的通路进而有不同的输出，输出与需要的参数相符合即为良品，测试机通过吸嘴抓住芯片，将其放入插座中。

而芯片在测试之前一般是放置在芯片卷带内的，通过芯片卷带进行芯片的输送工作，在测试时通过上料机构来夹取芯片卷带上凹槽内的芯片，进而通过上料机构将芯片压入到插座内，而现有的上料机构一般是通过两个电机来进行驱动完成上料工作，首先是通过一个电机完成将夹具从插座端移动至芯片卷带端的动作，使得夹具与芯片卷带处于同一平面内，进而通过一个电机完成驱动夹具上下移动的动作，驱动夹具移动至芯片顶部进行夹取动作，夹取完成后在将芯片运送至插座端，成本较高。为此，我们提出一种芯片检测装置的上料机构。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片检测装置的上料机构，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片检测装置的上料机构，包括支撑桌，所述支撑桌的顶部滑动连接有检测台，所述检测台上表面的一侧固定有插座，所述检测台上表面的中部固定有输料板，所述输料板的中部通过轴承转动连接有用于进行芯片上料工作的上料机构，所述支撑桌的一侧设置有芯片卷带；

所述上料机构包括转轴、链轮、链条、电机、导向框、第一滑轨、移动块、连接柱、连接杆和真空吸嘴，所述输料板的四角通过轴承对称转动连接有转轴，所述转轴靠近插座的一侧固定有链轮，四个所述链轮之间通过链条传动连接，所述检测台上表面远离插座的一侧固定有电机，所述输料板上的一个转轴的一端与电机的输出端固定，所述输料板靠近链轮的一侧滑动连接有导向框，所述导向框的内壁对称固定有第一滑轨，两个所述第一滑轨的外壁通过滑槽滑动连接有移动块，所述移动块靠近链条的一侧通过轴承转动连接有连接柱，所述连接柱靠近链条的一端与链条固定，所述移动块远离连接柱的一端固定有连接杆，所述连接杆的底部固定有真空吸嘴。

优选的，所述支撑桌的顶部对称固定有第二滑轨，所述第二滑轨的外壁对称滑动连接有第一滑块，四个所述第一滑块的顶部均与检测台固定，所述支撑桌上表面的中部固定有线性电机，所述检测台与线性电机的移动端固定。

优选的，所述输料板靠近导向框的一侧对称固定有第三滑轨，所述第三滑轨的外壁滑动连接有第二滑块，所述导向框的上端和下端分别与两个第二滑块固定。

优选的，所述输料板的上端对应链条的位置开设有导向槽，所述链条靠近导向槽的一侧对应连接柱的位置通过轴承转动连接有导向柱，所述导向柱与导向槽的内壁滚动连接。

优选的，所述输料板靠近电机的一侧等距固定有加强板，三个所述加强板的底部均与检测台固定。

优选的，所述连接杆靠近移动块的一端固定有加强杆，所述加强杆远离连接杆的一端与移动块固定。

优选的，所述输料板靠近电机一侧的四角等距固定有稳定套，所述转轴与稳定套的内壁转动连接。