[实用新型]一种测量LDI内层对位精度的装置有效

专利信息
申请号: 202120817212.4 申请日: 2021-04-21
公开(公告)号: CN215181399U 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 蔡文涛;邱田生;詹泽军 申请(专利权)人: 东莞市多普光电设备有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F9/00
代理公司: 广东莞信律师事务所 44332 代理人: 谢树宏
地址: 523000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 ldi 内层 对位 精度 装置
【权利要求书】:

1.一种测量LDI内层对位精度的装置,包括基座,其特征在于,所述基座上设有XYZ移动台、由该XYZ移动台控制移动的吸盘台面和下对准组件,所述吸盘台面的一端设有能够移动的标定靶点,所述基座上还设有支架,所述支架的横梁上设有第一相机和能够水平移动的第二相机,所述吸盘台面的边缘间隔设有多个靶点光源;

将内层板放置在所述吸盘台面上,内层板的第一面朝上,激光直接对内层板的第一面图形曝光的同时、所述吸盘台面上的靶点光源对内层板的第二面进行打靶;

内层板的第二面图形曝光时、内层板的第二面朝上放置在所述吸盘台面上,所述第一相机、第二相机和下对准组件对内层板进行对位后、再由所述激光直接对内层板的第二面图形曝光。

2.根据权利要求1所述的测量LDI内层对位精度的装置,其特征在于,所述下对准组件包括下CCD相机、透反棱镜、远心镜头和反射棱镜,所述下CCD相机与所述远心镜头之间设置所述透反棱镜,所述反射棱镜设置在所述远心镜头上。

3.根据权利要求2所述的测量LDI内层对位精度的装置,其特征在于,所述透反棱镜包括有反射面和透射面,所述透反棱镜倾斜45度置于一立方体斜镜座上,所述透反棱镜的表面镀有透反膜,所述透反膜对λ450nm光波透射,对λ450nm的光波反射,这里的λ为光波。

4.根据权利要求2所述的测量LDI内层对位精度的装置,其特征在于,所述吸盘台面的一端设有两个对称设置的标定靶点安装板,所述标定靶点安装板通过直线滑轨和滑块连接所述标定靶点,所述标定靶点安装板的端部设有移动气缸,所述移动气缸能够推动所述标定靶点沿着所述直线滑轨移动,所述标定靶点移动寻找与所述下对准组件的同轴位置。

5.根据权利要求4所述的测量LDI内层对位精度的装置,其特征在于,所述激光波段均为紫外波段,靶点光源所用的照明光源为红光、绿光或红外光。

6.根据权利要求4所述的测量LDI内层对位精度的装置,其特征在于,所述XYZ移动台包括X轴移动模组、Y轴移动模组和Z轴移动模组,所述Y轴移动模组由X轴移动模组控制X向移动,Z轴移动模组由Y轴移动模组控制Y向移动,Z轴移动模组控制整个吸盘台面的升降;

所述X轴移动模组、Y轴移动模组和Z轴移动模组均包括由伺服电机、传动丝杆和滑轨组件,X轴移动模组通过滑轨组件与Y轴移动模组连接,Y轴移动模组通过滑轨组件与Z轴移动模组连接。

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