[实用新型]一种压力传感器校准设备有效

专利信息
申请号: 202120840286.X 申请日: 2021-04-22
公开(公告)号: CN214471514U 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 袁进书;于成奇;高洪连 申请(专利权)人: 苏州纳芯微电子股份有限公司
主分类号: G01L25/00 分类号: G01L25/00;G01L27/00
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人: 常伟
地址: 215000 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 压力传感器 校准 设备
【说明书】:

实用新型提供一种压力传感器校准设备,其特征在于,所述压力传感器校准设备包括:沿第一方向延伸的第一滑轨和沿第二方向延伸的第二滑轨,所述第一滑轨和所述第二滑轨的交界位置包括空白区;若干载板,若干载板可滑动的设置于所述第一滑轨和所述第二滑轨中;以及动力装置,所述动力装置靠近所述空白区设置;其中,当所述载板沿着所述第一滑轨滑动进入所述空白区后,所述动力装置推抵所述空白区中的所述载板,以使所述空白区中的所述载板滑动进入所述第二滑轨中,所述第一方向和所述第二方向相异。

技术领域

本实用新型涉及压力传感器校准技术领域,特别涉及一种适用于校准压力传感器的校准设备。

背景技术

目前,压力传感器的大批量生产,在出厂前需要对其性能进行测试校准。现有的测试校准流程包括:常温测试、高温测试、次品分选、成品打码、冷却等过程。

传统作业方式在进行上述校准测试时,往往采用单一测试设备,依次进行单工位的测试与操作。现有的单机校准测试设备主要采用高低温冲击机对少数器件进行测试,通过在一个密封腔体中进行高低温转换而实现高低温转换。因此对测试设备的密封性要求较高,容易造成测试校准出现异常的概率增大。

单机校准测试设备与单工位测试的测试过程可控性差、生产测试数据的可追溯性差,造成工人劳动强度高,测试校准效率十分低下。且,针对不同类型的产品需要不同的测试设备去测试,测试成本较高,不同的测试设备占用较大的空间。

有鉴于此,需要提出一种新的压力传感器校准设备,其能够克服单机校准测试设备和单工位测试的劣势。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种压力传感器校准设备,通过在滑轨上依序布置多种测试工位进行测试,其能够克服单机校准测试设备和单工位测试的导致的测试校准不准确的问题。

本实用新型提供的一种压力传感器校准设备,其特征在于,所述压力传感器校准设备包括:沿第一方向延伸的第一滑轨和沿第二方向延伸的第二滑轨,所述第一滑轨和所述第二滑轨的交界位置包括空白区;若干载板,若干载板可滑动的设置于所述第一滑轨和所述第二滑轨中;以及动力装置,所述动力装置靠近所述空白区设置;其中,当所述载板沿着所述第一滑轨滑动进入所述空白区后,所述动力装置推抵所述空白区中的所述载板,以使所述空白区中的所述载板滑动进入所述第二滑轨中,所述第一方向和所述第二方向相异。

作为可选的技术方案,所述所述空白区中的所述载板滑动进入所述第二滑轨中,使得位于所述第二滑轨中的若干载板依序沿着第二滑轨朝向远离所述空白区的方向移动一块载板的距离。

作为可选的技术方案,所述第一方向垂直于所述第二方向。

作为可选的技术方案,所述第一滑轨的数量为两个;所述第二滑轨的数量为两个;其中,两个第一滑轨和两个第二滑轨构成一个回字形滑轨。

作为可选的技术方案,所述回字形滑轨的四个角落处分别包括所述空白区。

作为可选的技术方案,所述动力装置的数量为四个,四个动力装置和四个角落处的空白区一一对应。

作为可选的技术方案,还包括:沿着所述回字形滑轨依序设置的上料工位、常温检测工位、至少一个低温箱、低温检测工位、至少一个高温箱、高温检测工位、至少一个回温箱、常温复测工位、打标工位以及下料工位。

作为可选的技术方案,还包括:所述常温检测工位、所述低温检测工位、所示高温检测工位以及所述常温复测工位分别包括第一检测站与第二检测站;所述第一检测站用于检测第一压力传感器;所述第二检测站用于检测第二压力传感器;所述第一检测站包括第一探针组件、第一载具组件以及第一密封组件;所述第二检测站包括第二探针组件、第二载具组件以及第二密封组件;其中,所述第一压力传感器为差压压力传感器;该第二压力传感器为绝压压力传感器。

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