[实用新型]一种CT探测器降噪结构及CT扫描仪

说明书

本实用新型属于CT技术领域，具体涉及一种CT探测器降噪结构，包括PCB板和安装于PCB板上的第一ADC芯片、第二ADC芯片、第三ADC芯片、第四ADC芯片、稳压器、FPGA芯片、第一电源芯片、第二电源芯片和第三电源芯片，第一ADC芯片、第三ADC芯片、稳压器、FPGA芯片、第一电源芯片沿PCB板的长度方向依次间隔分布，第一ADC芯片与第二ADC芯片沿PCB板的宽度方向平齐分布，第三ADC芯片与第四ADC芯片沿PCB板的宽度方向平齐分布，第一电源芯片、第二电源芯片及第三电源芯片沿PCB板的宽度方向平齐分布。本实用新型在硬件设计层面降低ADC芯片的底噪，且不同ADC芯片的底噪分布均匀。

技术领域

本实用新型属于CT技术领域，具体涉及一种CT探测器降噪结构及CT扫描仪。

背景技术

CT系统通过处理CT探测器采集到的数据而得到重建图像，CT探测器是通过ADC芯片接收晶体二极管产生的电流或电压等模拟量后进行模数转换获得X射线数据。探测器的ADC芯片会因为外界的干扰产生一定的底噪，这些底噪产生的数据对CT探测器的工作没有实际作用，若底噪过大会影响ADC芯片采集数据。而且，若CT探测器内的各ADC芯片底噪不一致，会影响CT图像的质量，从而产生伪影。现有的CT探测器在采集到数据后无法对数据进行处理，只能在后处理重建时通过去噪算法处理ADC芯片底噪，以尽可能去除底噪对重建图像的影响。

为了尽可能降低ADC芯片的底噪并且使ADC芯片的底噪尽可能保持一致，有必要对CT探测器降噪结构进行改进。

实用新型内容

基于现有技术中存在的上述缺点和不足，本实用新型的目的之一是至少解决现有技术中存在的上述问题之一或多个，换言之，本实用新型的目的之一是提供满足前述需求之一或多个的一种CT探测器降噪结构及CT扫描仪。

为了达到上述实用新型目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种CT探测器降噪结构，包括PCB板和安装于PCB板上的第一ADC芯片、第二ADC芯片、第三ADC芯片、第四ADC芯片、稳压器、FPGA芯片、第一电源芯片、第二电源芯片和第三电源芯片，第一ADC芯片、第三ADC芯片、稳压器、FPGA芯片、第一电源芯片沿PCB板的长度方向依次间隔分布，第一ADC芯片与第二ADC芯片沿PCB板的宽度方向平齐分布，第三ADC芯片与第四ADC芯片沿PCB板的宽度方向平齐分布，第一电源芯片、第二电源芯片及第三电源芯片沿PCB板的宽度方向平齐分布。

作为优选方案，所述第三ADC芯片与稳压器沿PCB板的长度方向的间隔不小于500mil。

作为优选方案，所述稳压器为低压差线性稳压器。

作为优选方案，所述第三ADC芯片与第一电源芯片沿PCB板的长度方向的间隔不小于1200mil。

作为优选方案，所述第一电源芯片、第二电源芯片及第三电源芯片的工作频率为1MHz。

作为优选方案，所述PCB板由数字地层、静态地与数字地层、模拟地层、静态地与数字地层依次叠设而成。

作为优选方案，数字地层、静态地与数字地层、模拟地层、静态地与数字地层分别在所有电源芯片所在的区域与所有ADC芯片所在的区域之间分隔，构成隔离空间。

本实用新型还提供一种CT扫描仪，包括CT探测器，所述CT探测器包括如权利要求1-7任一项所述的CT探测器降噪结构。

本实用新型与现有技术相比，有益效果是：

本实用新型的CT探测器降噪结构及CT扫描仪，在硬件设计层面降低ADC芯片的底噪，且不同ADC芯片的底噪分布均匀。

附图说明

图1是本实用新型实施例1的CT探测器降噪结构的布局结构示意图；