[实用新型]一种电磁铁温升测试装置有效

专利信息
申请号: 202120891503.8 申请日: 2021-04-26
公开(公告)号: CN214953837U 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 刘铁兵;于洁云;易红宝 申请(专利权)人: 深圳市宗泰电机有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R27/02;G01K13/00
代理公司: 深圳市金信启明知识产权代理有限公司 44484 代理人: 周斌
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区南湾*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 电磁铁 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种电磁铁温升测试装置,用于接入被测电磁铁后进行温升测验,其特征在于,包括:

低电阻测试仪、数字电源、主控电路及显示屏;

所述主控电路包括单片机,与单片机连接的切换电路和开关电路;

所述单片机与低电阻测试仪、数字电源及显示屏电连接;

数字电源、切换电路、被测电磁铁、开关电路连接成第一测试环路;

低电阻测试仪、切换电路、被测电磁铁连接成第二测试环路;

所述切换电路由单片机控制,将被测电磁铁自动切换接入第一测试环路或第二测试环路;

所述开关电路由单片机控制,将第一测试环路导通或关断。

2.根据权利要求1所述的电磁铁温升测试装置,其特征在于,所述单片机型号为STM32F103。

3.根据权利要求1所述的电磁铁温升测试装置,其特征在于,所述切换电路包通断三极管Q6,双刀继电器线圈,与双刀继电器线圈机械连接的双刀继电器触点,连接在第一测试环路的第一环路触点,连接在第二测试环路的第二环路触点;

Q6的集电极连接单片机,发射极连接双刀继电器线圈,基极接地,单片机控制Q6的通断从而控制双刀继电器线圈的得电失电,双刀继电器触点连接有被测电磁铁;

双刀继电器线圈在得电或失电状态下使得双刀继电器触点与第一环路触点连接或与第二环路触点连接,从而将被测电磁铁接入第一测试环路或第二测试环路。

4.根据权利要求3所述的电磁铁温升测试装置,其特征在于,所述Q6的发射极与双刀继电器线圈之间还连接有防返流二极管D12。

5.根据权利要求1所述的电磁铁温升测试装置,其特征在于,所述开关电路包括MOS管Q8,分压电阻R37和R39;

所述数字电源设置有电源正极及电源负极接入所述第一测试环路;

R37的一端接收来自单片机的控制信号,另一端连接R39及Q8的栅极,R39的另一端连接Q8的源极并接地;

Q8的漏极由被测电磁铁接入数字电源的电源正极,Q8的源极接入数字电源的电源负极。

6.根据权利要求5所述的电磁铁温升测试装置,其特征在于,所述主控电路还包括光耦U3及开关管Q3,光耦U3的输入端连接单片机,输出端连接Q3的集电极,Q3的基极连接开关电路的R37以控制Q8的导通与关断。

7.根据权利要求1所述的电磁铁温升测试装置,其特征在于,所述主控电路还分别包括与单片机连接的第一串口通信电路、第二串口通信电路、第三串口通信电路及第四串口通信电路;

第一串口通信电路包括与单片机连接的第一通信芯片及与第一通信芯片连接的第一串口,第一串口连接数字电源;

第二串口通信电路包括与单片机连接的第二通信芯片及与第二通信芯片连接的第二串口,第二串口连接低电阻测试仪;

第三串口通信电路包括与单片机连接的第三通信芯片及与第三通信芯片连接的第三串口,第三串口连接显示屏;

第四串口通信电路包括与单片机连接的第四通信芯片及与第四通信芯片连接的第四串口,第四串口连接计算机。

8.根据权利要求7所述的电磁铁温升测试装置,其特征在于,所述第一通信芯片、第二通信芯片、第四通信芯片的型号为MAX3232,所述第三通信芯片的型号为MAX485。

9.根据权利要求1所述的电磁铁温升测试装置,其特征在于,所述主控电路还包括与单片机连接的数据存储电路。

10.根据权利要求1所述的电磁铁温升测试装置,其特征在于,所述主控电路还包括提供稳定电压的电源电路。

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