[实用新型]一种适用于小电阻的四线式阻抗测量辅助探针

说明书

本实用新型属于电测试技术领域，涉及一种适用于小电阻的四线式阻抗测量辅助探针，包括第一笔帽和第二笔帽，所述第一笔帽的内侧连出第一导线，所述第二笔帽的内侧连出第二导线，所述第一导线的末端与所述第二导线的末端都导电连接于一根探针头。本辅助探针避免了测试位置尺寸太小而导致同时操作四个表笔难以兼顾接触完全的问题，单人就可以操作，测试效率高且测量结果准确，避免了误测。

技术领域

本实用新型涉及电测试技术领域，特别涉及一种适用于小电阻的四线式阻抗测量辅助探针。

背景技术

目前在不良品测量时，有时候需要测量小导体或PCB线阻的阻抗，必须使用数字万用表1的四线式阻抗测量法，如图1所示，其操作方法是：将两个红表笔11探针一起接触电阻2的一端，两个黑表笔12探针一起接触电阻2的另一端。四线式阻抗测量的基本原理是：一组红黑表笔是万用表恒流源的回路(电流档),另一组红黑表笔测量待测电阻的电压(电压档)的回路,由于电压档的阻抗数量级比量测的阻抗大了很多倍,测量电压回路的路径几乎没有电流流过,因此测得的电压就是待测电阻两端的电压,根据欧姆定律R＝V/I,可以得到准确的待测电阻的阻值。表笔的线阻将不影响测试结果，但这种方法还存在一些不足：

1.测量要同时使用四个表笔，单人不易操作，必须需要两人同时操作，造成工作效率不高；

2.因为探针头较粗，对于小尺寸电阻或微小的PAD点，两个探针不好同时接触PAD点，会造成测量的准确度不高。

因此有必要开发一种辅助工具来解决以上问题。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种适用于小电阻的四线式阻抗测量辅助探针，能够方便对微小电阻进行四线式阻抗测量。

本实用新型通过如下技术方案实现上述目的：一种适用于小电阻的四线式阻抗测量辅助探针，包括第一笔帽和第二笔帽，所述第一笔帽的内侧连出第一导线，所述第二笔帽的内侧连出第二导线，所述第一导线的末端与所述第二导线的末端都导电连接于一根探针头。

具体的，所述第一笔帽和所述第二笔帽通过绝缘的连接部平行连接，且所述第一笔帽的开口方向和所述第二笔帽的开口方向同向。

进一步的，所述探针头的后端固定于所述连接部上。

具体的，所述第一导线和所述第二导线连接于所述探针头的不同高度。

具体的，所述探针头的前端呈锥形。

本实用新型技术方案的有益效果是：

本辅助探头避免了测试位置尺寸太小而导致同时操作四个表笔难以兼顾接触完全的问题，单人就可以操作，测试效率高且测量结果准确，避免了误测。

附图说明

图1为数字万用表的测量原理图；

图2为实施例1辅助探针的剖视图；

图3为实施例2辅助探针的结构示意图；

图4为实施例3辅助探针的立体图。

图中数字表示：

1-数字万用表，11-红表笔，12-黑表笔；

2-电阻；

3a-第一笔帽，3b-第二笔帽，31-开口；

4-探针头，41-后端，42-前端；

5a-第一导线，5b-第二导线；

6-连接部。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。

实施例1：