[实用新型]芯片测试座

说明书

本实用新型公开了一种芯片测试座，涉及芯片测试技术领域，它包括连接在测试电路板上的连接座、与连接座连接的固定座和安装座；固定座上设置有弹性件，安装座固定在弹性件上，且其上安装有芯片。连接座安装在测试电路板的正上方，固定座和安装座设置在连接座上，也位于测试电路板的正上方，向安装座施加向下的压力，安装座压缩弹性件，带动位于安装座上的芯片向靠近测试电路板的方向移动，使得芯片的引脚能够接触到测试电路板的对应触点。测试电路板通电顺序就不需要严格固定，使用本测试座测试芯片时不会完全依赖于操作人员的经验，对于经验不足的操作人员，也会快速进入测试状态，相对提高测试芯片的速度，进而减少对测试效率的影响。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片测试座。

背景技术

在芯片成品生产之后、进入市场之前，必须要进行测试，测试无误的芯片才能进入市场。测试方式是将测试芯片的每个引脚与测试电路板上对应的触点接触，通电测试电路板的导通情况，一般电路板上的元器件都是通过焊接的方式与电路板固定接触的，测试芯片由于频繁更换，导致其无法焊接在测试电路板上进行测试，因此就需要借助测试座。现有的测试座辅助芯片的方式是，芯片的引脚插入测试座上开设的引脚插槽内固定，并露出测试座的底部，测试座固定在测试电路板的指定位置正上方后，芯片的引脚正好接触到测试电路板上对应的触点。

但是该种测试座在实际使用过程中，只要将测试座固定后，芯片的引脚就会接触到测试电路板，因此，需要在测试电路板通电之前，先将测试座和芯片固定好，只要先后顺序错误，就会影响测试结果，因此，使用该种测试座测试芯片时会依赖于操作人员的经验，对于经验不足的操作人员，测试芯片的速度会大大下降，进而影响测试效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：针对上述存在的问题，提供一种不依赖于操作人员的经验的芯片测试座。

本实用新型采用的技术方案如下：

一种芯片测试座，位于测试电路板正上方，包括连接在测试电路板上的连接座、与连接座连接的固定座和安装座；连接座底部开设有适配于固定座的安装槽，安装槽的中心开设有纵向贯穿连接座且适配于安装座的安装孔，固定座固定在安装槽内，安装座位于安装孔内；固定座上设置有弹性件，安装座固定在弹性件上，且其上安装有芯片。

优选的，固定座的两侧横向延伸有引脚座；芯片测试座还包括安装在固定座和安装座上的金手指组件，其包括第一金手指；第一金手指的上部横向延伸有第一接触引脚、纵向延伸有第一测试引脚，第一接触引脚固定在安装座上并与芯片接触，第一测试引脚设置在引脚座上并正对测试电路板。

优选的，引脚座上开设有纵向贯穿的测试引脚槽，第一测试引脚插入测试引脚槽内。

优选的，安装座纵向向上延伸有芯片座，安装座上开设有接触引脚槽，芯片座上开设有与接触引脚槽连通的芯片引脚槽；接触引脚槽、芯片引脚槽的数量均与芯片引脚的数量相适配。

优选的，金手指组件还包括与第一金手指相对设置且彼此绝缘的第二金手指，第二金手指的上部横向延伸有第二接触引脚、纵向延伸有第二测试引脚，第二接触引脚固定在安装座上并与芯片接触，第二测试引脚插入测试引脚槽内并正对测试电路板。

优选的，第一接触引脚和第二接触引脚均插入接触引脚槽内，芯片的引脚插入芯片引脚槽内，第一接触引脚、第二接触引脚均与芯片的引脚接触；金手指组件的数量与芯片引脚的数量相适配，芯片的每个引脚对应接触一个第一接触引脚、一个第二接触引脚。

优选的，安装槽内还开设有引脚卡槽，第一接触引脚和第二接触引脚均由下至上卡入引脚卡槽内。

优选的，第一金手指、第二金手指上分别开设有同轴同心的第一固定孔、第二固定孔，两者内穿入有绝缘连接棒，第一金手指、第二金手指通过绝缘连接棒连接。

优选的，每个金手指组件的第一固定孔、第二固定孔均同轴同心，所有金手指组件也通过绝缘连接棒连接。