[实用新型]一种用于光学元件多点胶粘结合强度测量的辅助装置

说明书

本实用新型公开了一种用于光学元件多点胶粘结合强度测量的辅助装置，包括关于水平面对称的两个夹持系统，夹持系统包括楔形块、夹持头和夹具体，夹持头的一端卡固在两个楔形块间，夹具体与夹持头连接，试验时，上下端的楔形块分别固定在拉伸试验机的上下夹持端，测试块的上下端嵌入两个夹具体的矩形槽内，螺钉旋入矩形槽并与测试块抵紧。本实用新型所公开的装置和方法解决了光学元件多点胶粘结合强度测试在试验中难以装夹、装夹过程中发生扭曲、试验过程中受力不均以及装夹剪切力破坏胶粘部位等问题。

技术领域

本实用新型涉及金属装夹、拉伸试验技术领域，具体涉及一种用于光学元件多点胶粘结合强度测量的辅助装置。

背景技术

与机械方法相比，胶粘接方法具有质量轻、成本低、应力小、装配难度低等优点。近年来，在空间遥感领域，使用胶粘技术安装光学元件越来越受光机产品装校的青睐。光学元件胶粘普遍采用多点背面粘接或径向粘接或组合式粘接，粘接后的胶粘结合强度就是影响光学元件装配可靠性的关键，测量光学元件多点胶粘结合强度显得尤为重要。

目前，光学元件胶粘结合强度尚无统一测量方法，通常是在拉伸试验机上进行测量，但是光学元件多点胶粘结构尺寸较大，无法直接装夹在拉伸试验机上进行测量，即使安装上也因为受力不均或偏载导致测量结果失真，甚至无效。

因此，有必要研发一种能解决上述问题的光学元件胶粘结合强度测量装置。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种能实现光学元件胶粘抗拉结合强度和抗剪切结合强度的测试及其光学元件在轴向力作用下的其他力学性能等测试的辅助装置，以克服光学元件的胶粘强度测试在试验中难以装夹、受力不均、装夹过程中发生剪切破坏等问题，达到有效测量光学元件多点胶粘结合强度测量的目的。

为实现本实用新型目的而采用的技术方案是这样的，一种用于光学元件多点胶粘结合强度测量的辅助装置，包括夹持系统Ⅰ和位于夹持系统Ⅰ正下方的夹持系统Ⅱ。

所述夹持系统Ⅰ包括楔形块Ⅰ、夹持头Ⅰ和夹具体Ⅰ，两个楔形块Ⅰ间隔布置，每个楔形块Ⅰ面向另一个楔形块Ⅰ的一侧均设置有供夹持头Ⅰ安装的弧形槽，两个弧形槽合围出供夹持头Ⅰ容置的空腔，夹持头Ⅰ的上端卡固在两个楔形块Ⅰ的弧形槽内。

所述夹具体Ⅰ为连接在夹持头Ⅰ下端的长方体结构，夹具体Ⅰ设置有开口朝下的矩形槽Ⅰ和若干螺纹孔，这些螺纹孔位于矩形槽Ⅰ的同一侧且贯穿矩形槽Ⅰ的内外侧。

所述夹持系统Ⅱ包括楔形块Ⅱ、夹持头Ⅱ和夹具体Ⅱ，两个楔形块Ⅱ间隔布置，每个楔形块Ⅱ面向另一个楔形块Ⅱ的一侧均设置有供夹持头Ⅱ安装的弧形槽，两个弧形槽合围出供夹持头Ⅱ容置的空腔，夹持头Ⅱ的下端卡固在两个楔形块Ⅱ的弧形槽内。

所述夹具体Ⅱ为连接在夹持头Ⅱ上端的长方体结构，夹具体Ⅱ设置有开口朝上的矩形槽Ⅱ和若干螺纹孔，这些螺纹孔位于矩形槽Ⅱ的同一侧且贯穿矩形槽Ⅱ的内外侧。

试验状态时，两个所述楔形块Ⅰ固定在拉伸试验机的上夹持端，两个楔形块Ⅱ固定在拉伸试验机的下夹持端，测试块的上端嵌入矩形槽Ⅰ内，若干螺钉旋入矩形槽Ⅰ并与测试块抵紧，测试块的下端嵌入矩形槽Ⅱ内，若干螺钉旋入矩形槽Ⅱ并与测试块抵紧。

进一步，所述夹持头Ⅰ为台阶轴结构，夹持头Ⅰ具有较大直径的一端卡固在两个楔形块Ⅰ之间。

所述夹持头Ⅱ为台阶轴结构，夹持头Ⅱ具有较大直径的一端卡固在两个楔形块Ⅱ之间。所述夹持头Ⅰ与夹持头Ⅱ的轴线重合。

进一步，所述测试块包括尺寸一致的上粘接板和下粘接板，上粘接板和下粘接板均水平设置，上粘接板的下表面间隔布置有若干圆台Ⅰ，下粘接板的上表面间隔布置有若干圆台Ⅱ，若干圆台Ⅰ和对应的圆台Ⅱ采用液态粘胶粘接，上粘接板和下粘接板相互对齐。

所述上粘接板的上表面连接有上夹固板，下粘接板的下表面连接有下夹固板，上夹固板和下夹固板位于同一竖直平面上。