[实用新型]测定机构有效

专利信息
申请号: 202121014238.1 申请日: 2021-05-12
公开(公告)号: CN215263618U 公开(公告)日: 2021-12-21
发明(设计)人: 冈本文太;添田雄史;富桝胜仁 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘慧群
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测定 机构
【权利要求书】:

1.一种测定机构,在测定被测定基板的电特性时使用,所述被测定基板包含具有上表面以及下表面的被测定基板主体和设置在所述被测定基板主体的下表面的被测定电极,其特征在于,

所述测定机构具备:

测定用基板,包含:测定用基板主体,具有不隔着所述被测定基板主体的上表面地与所述被测定基板主体的下表面对置的上表面以及下表面;和测定用电极,设置在所述测定用基板主体的上表面;

第1按压构件,与所述被测定基板主体的上表面或者所述测定用基板主体的下表面接触,并且,在上下方向上观察与所述测定用电极重叠;和

第1弹性力赋予机构,通过包含对与所述被测定基板主体的上表面接触的所述第1按压构件赋予下方向的弹性力的第1弹性构件,或者,通过包含对与所述测定用基板主体的下表面接触的所述第1按压构件赋予上方向的弹性力的第1弹性构件,从而使所述被测定电极和所述测定用电极接触,其中,所述第1弹性构件不与所述测定用电极以及所述被测定电极电连接。

2.根据权利要求1所述的测定机构,其特征在于,

所述被测定基板包含多个所述被测定电极,

所述测定用基板包含多个所述测定用电极,

所述第1按压构件在上下方向上观察与多个所述测定用电极重叠。

3.根据权利要求1所述的测定机构,其特征在于,

所述被测定基板包含多个所述被测定电极,

所述测定用基板包含多个所述测定用电极,

所述第1按压构件具有:多个第1按压构件,在上下方向上观察与多个所述测定用电极分别重叠。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的测定机构,其特征在于,

按压用基板的厚度比所述测定用基板的厚度厚。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的测定机构,其特征在于,

按压用基板的硬度比所述测定用基板的硬度硬。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的测定机构,其特征在于,

所述测定用电极的上下方向的长度比所述测定用电极的左右方向的长度以及所述测定用电极的前后方向的长度长。

7.根据权利要求6所述的测定机构,其特征在于,

所述测定用电极为导电性的棒状构件。

8.根据权利要求1至3中任一项所述的测定机构,其特征在于,

所述测定用电极为导体层。

9.根据权利要求1至3中任一项所述的测定机构,其特征在于,

所述被测定基板主体具有挠性。

10.根据权利要求1至3中任一项所述的测定机构,其特征在于,

所述第1按压构件与所述被测定基板主体的上表面接触,

所述第1弹性构件对所述第1按压构件赋予下方向的弹性力。

11.根据权利要求10所述的测定机构,其特征在于,

所述测定机构还具备:

第2按压构件,与所述测定用基板主体的下表面接触,并且,在上下方向上观察与所述测定用电极重叠;和

第2弹性力赋予机构,通过包含对与所述测定用基板主体的下表面接触的所述第2按压构件赋予上方向的弹性力的第2弹性构件,从而使所述被测定电极和所述测定用电极接触,其中,所述第2弹性构件不与所述测定用电极以及所述被测定电极电连接。

12.根据权利要求11所述的测定机构,其特征在于,

所述第2按压构件在上下方向上观察与多个所述测定用电极重叠。

13.根据权利要求11所述的测定机构,其特征在于,

所述第2按压构件具有:多个第2按压构件,在上下方向上观察与多个所述测定用电极分别重叠。

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