[实用新型]装置试样和光电装置

权利要求书

1.一种用于在混合集成方法中与硅平台一起使用的装置试样，其中，所述装置试样包括：输入波导，所述输入波导包括输入小面；

有源波导，所述有源波导耦合到所述输入波导，所述有源波导包括基于III-V半导体的电光装置；以及

输出波导，所述输出波导被配置来在所述有源波导与输出小面之间耦合光；

其中所述输入波导和所述输出波导是无源波导。

2.如权利要求1所述的装置试样，其中所述输入波导和所述输出波导中的一者或两者包含弯曲部。

3.如权利要求2所述的装置试样，其中所述弯曲部具有的宽度小于所述有源波导的宽度。

4.如权利要求2或权利要求3所述的装置试样，其中所述弯曲部具有的宽度不超过1μm。

5.如权利要求1所述的装置试样，其中所述输入波导和所述输出波导中的一者或两者由III-V半导体形成。

6.如权利要求1所述的装置试样，其中所述有源波导由III-V半导体形成。

7.如权利要求1要求所述的装置试样，其中所述输入波导和所述输出波导中的一者或两者包括模式转换器，所述模式转换器被配置来转换从中传输通过的光的光学模式。

8.如权利要求1所述的装置试样，其中所述基于III-V半导体的电光装置是电吸收调制器。

9.如权利要求1所述的装置试样，其中所述有源波导是具有直线几何形状的直波导。

10.如权利要求1所述的装置试样，其中所述有源波导的光路长度小于所述输入波导和/或所述输出波导的光路长度。

11.如权利要求1所述的装置试样，其中所述输入小面和所述输出小面在所述装置试样的同一横向侧上。

12.如权利要求1所述的装置试样，其中所述装置试样包括设置在所述装置试样的一个或多个横向侧之上的抗反射涂层。

13.如权利要求1所述的装置试样，其中所述装置试样包括第一接触焊盘和第二接触焊盘，每个接触焊盘电连接到所述电光装置中的相应层。

14.如权利要求1所述的装置试样，其中所述输入小面和/或所述输出小面是丁字架小面。

15.如权利要求1所述的装置试样，其中所述输入波导和/或所述输出波导具有的宽度不超过4μm。

16.一种光电装置，所述光电装置包括硅平台和如权利要求1-15中任一项所述的装置试样，其中：

所述装置试样结合到所述硅平台；

所述装置试样的所述输入波导通过所述输入小面耦合到所述硅平台的输入波导；并且

所述装置试样的所述输出波导通过所述输出小面耦合到所述硅平台的输出波导。