[实用新型]滚轮压制式导电体测试装置

说明书

本实用新型提供一种滚轮压制式导电体测试装置，包括一安装座、一测试座、一活动盖、一压缩弹力组及一连动支臂组。其中该活动盖系通过该压缩弹力组而间隔活动设置于该安装座一侧，且该连动支臂组活动连接于该安装座及该活动盖之间，该测试座夹设于该安装座及一测试电路板之间，通过该连动支臂组的一对第一支臂的前端分别设有一滚轮，其设置方向系对应进行压制的方向，其不但能够避免电气连接时的信号传输错误，还能利用该压制滚轮沿着该导电体表面滑移而不会磨损其表面纹路。

技术领域

本实用新型涉及半导体、晶圆或主被动元件等导电体的测试设备领域，特别是关于一种滚轮压制式导电体测试装置，系通过一第一支臂上的特殊压制滚轮设计，能够从导电体侧面压制，以避免电气连接时的信号传输错误，及避免磨损导电体表面的纹路。

背景技术

一般如：半导体、晶圆或主被动元件等导电体于制作完成后，必须经过许多的电气测试方能确保其品质，以市面上常见的测试装置来说，多半是采用测试套座的设计，其电气连接于一测试电路板上，以将该导电体置入该测试套座内，再利用该测试套座所设置的压制结构来压制稳定该导电体，这些结构设计大多采用可活动的一盖体及复数压制臂结合后，于该导电体置入的过程中，该盖体受压制而使该些压制臂打开供置入该导电体，当放置完毕后，该些压制臂会以二点或是四点压制的方式，压制于该导电体的相对二侧或是其四周，使其充分与该测试套座内的复数电气探针完成电气连接。

然而，由于IC的插置对位需经过导引对位，因此每次测试都必须依照该导电体的规格尺寸来设计，由于各式导电体的规格尺寸众多，操作前都必须进行更换，相对也会影响到该些压制臂压制的位置而产生偏差，使得被压制处的应力较集中，其受力不平均的情况下也有可能影响到测试结果，甚至其压制的力道也会磨损其表面的花纹，故有必要加以改良。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的一目的，旨在提供一种滚轮压制式导电体测试装置，俾于二第一支臂前端设有一压制滚轮，从一导电体二侧进行压制时能够滚动缓冲压制时的摩擦力，不仅能有效提升测试时的正确性，且有效避免磨损该导电体的表面纹路等功效。

为达上述目的，本实用新型提供一种滚轮压制式导电体测试装置，用来安装并完成电性连接于一测试电路板上，以供测试该导电体，其特征在于，包括：

一安装座，用以安装于该测试电路板上，且该安装座中央形成有一容置空间，并由该容置空间延伸至该安装座底面而设有一容置槽；

一测试座，安装于该容置槽内，使该测试座形成夹设于该测试电路板及该安装座之间的形态，且该测试座内部设有复数电气探针，每一该电气导电探针二端分别对应该导电体及该测试电路板；

一活动盖，限位活动设置于该安装座的上方，使该活动盖能够相对该安装座往复上下移动，且该活动盖的中央呈镂空状；

一压缩弹力组，包含复数个压缩弹簧，且该压缩弹力组夹设于该安装座及该活动盖之间，使该活动盖常态保持顶高的状态；及

一连动支臂组，包含一对第一支臂及一对第二支臂，该一对第一支臂一端分别活动连接于该活动盖的二相对侧以形成对称设置，该一对第二支臂的一端分别活动连接于该一对第一支臂的中段位置，该一对第二支臂的另一端再分别活动连接于该安装座的二相对侧，使该一对第一支臂与该一对第二支臂形成连动，每一该第一支臂的另一端设有一压制滚轮。

所述的滚轮压制式导电体测试装置，其中，每一该第一支臂的一端设有一第一枢轴，该活动盖二侧分别设有一第一枢接部，凭借二第一枢轴以将二第一支臂分别活动枢设于该活动盖。

在操作时，该导电体由一吸取头吸附并移动至该测试座的过程中，首先会由该吸取头压制该活动盖向下移动，连动该连动支臂组分别朝二侧向外翻开，接着，当该导电体定位置入该测试座后，该连动支臂组会重新复位，使该些压制滚轮由相对的二侧下压该导电体的顶面二侧而进行测试。