[实用新型]一种耦合器横向场分布测量装置

权利要求书

1.一种耦合器横向场分布测量装置，其特征在于，包括步进或伺服电机(1)、支撑架(2)、连接杆(3)、不同尺寸轴向微扰体座杆(4)、微扰体、V型块(6)、网络分析仪和计算机，其中所述微扰体座杆(4)一端与连接杆(3)连接，另一端末端在径向方向分布不同半径的孔座，用于放置微扰体；将步进或伺服电机(1)固定在支撑架(2)上，通过连接杆(3)将轴向微扰体座杆(4)与步进或伺服电机(1)旋转轴连接，微扰体安装在轴向微扰体座杆(4)末端；将待测量耦合器(5)放置V型块(6)上，由计算机控制所述电机(1)带动微扰体在所述测量耦合器(5)内部不同径向位置沿角向方向运动，同时控制网络分析仪测量微波参数。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述微扰体放置在轴向微扰体座杆(4)末端的孔座，孔座放置在待测耦合器(5)内部待测量纵向位置。