[实用新型]硅基显示的来料电性检测系统有效
| 申请号： | 202121116315.4 | 申请日： | 2021-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN215264287U | 公开（公告）日： | 2021-12-21 |
| 发明（设计）人： | 朱平;刘胜芳;李雪原;刘晓佳;赵铮涛 | 申请（专利权）人： | 安徽熙泰智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人： | 朱圣荣 |
| 地址： | 241000 安徽省芜湖市芜湖长江*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 显示 来料 检测 系统 | ||
1.硅基显示的来料电性检测系统，待检测的基底层上存在像素电极，所述基底层的边缘设有外围电极，其特征在于：所述基底层具有像素电极的一面上方固定有AOI，所述AOI与基底层之间设有液晶模块。
2.根据权利要求1所述的硅基显示的来料电性检测系统，其特征在于：所述液晶模块自基底层向AOI一侧依次为导光板、偏光片、液晶层、偏光片、ITO薄膜。
3.根据权利要求2所述的硅基显示的来料电性检测系统，其特征在于：所述外围电机上固定有探针或探卡，所述探针或探卡通过导线连接电源。
4.根据权利要求1、2或3所述的硅基显示的来料电性检测系统，其特征在于：所述AOI包括固定在液晶模块上方的采集单元、连接采集单元的图像处理单元，以及连接图像处理单元的显示单元。
5.根据权利要求4所述的硅基显示的来料电性检测系统，其特征在于：所述的偏光片包括上偏光片和下偏光片，所述上偏光片与下偏光片角度成90°。
6.根据权利要求5所述的硅基显示的来料电性检测系统，其特征在于：所述的AOI相机为面阵或TDI相机，检出精度小于等于1um；
所述的AOI相机为面阵或TDI相机，其光学像元为≤7um，其下方物镜倍率大于等于7倍。
7.根据权利要求1或6所述的硅基显示的来料电性检测系统，其特征在于：所述的液晶层厚度为1um至5um之间。
8.根据权利要求7所述的硅基显示的来料电性检测系统，其特征在于：所述的导光板为反射底片与光学亚克力板材制成。
9.根据权利要求8所述的硅基显示的来料电性检测系统，其特征在于：所述的导光板的光学亚克力板材材料为PMMA，折射率为1.5，厚度为100um-500um。
10.根据权利要求9所述的硅基显示的来料电性检测系统，其特征在于：所述的反射底片材料为Ag/Al/Au/Cu中的一种或者其合金，反射率大于等于85％。
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