[实用新型]一种轴类零件同心测点位置校准具有效

专利信息
申请号: 202121134822.0 申请日: 2021-05-25
公开(公告)号: CN214702022U 公开(公告)日: 2021-11-12
发明(设计)人: 王斌;杨力;李超 申请(专利权)人: 中核(天津)科技发展有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00
代理公司: 天津创智睿诚知识产权代理有限公司 12251 代理人: 李薇
地址: 300000 *** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 零件 同心 位置 校准
【说明书】:

实用新型公开了一种轴类零件同心测点位置校准具,包括置零标件以及分别可拆卸固定于所述置零标件两端的右刻线调整盘和左刻线调整盘;每一刻线调整盘的外圆环向面设有相同弧长但半径不同的连续刻线段。本实用新型可精确调整传感器沿校准具径向方向上位置。

技术领域

本实用新型涉及机械设计技术领域,特别是涉及一种轴类零件同心测点位置校准具。

背景技术

测量领域中,对于轴向尺寸较大的轴类零件,通常采用相对测量方法进行轴向长度检测。当轴两端面为非平面,且沿径向方向存在一定的尺寸差异时,测量端面不同截面圆所得到的结果也不尽相同。常规测量方法,只能满足在指定区域内的定截面圆点对点测量,无法实现一定精度范围内的定点测量。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术中存在轴端面为非平面时尺寸测量精度低的技术缺陷,而提供一种轴类零件同心测点位置校准具。

为实现本实用新型的目的所采用的技术方案是:

一种轴类零件同心测点位置校准具,包括置零标件以及分别可拆卸固定于所述置零标件两端的右刻线调整盘和左刻线调整盘;每一刻线调整盘的外圆环向面设有相同弧长但半径不同的连续刻线段。

在上述技术方案中,所述置零标件为阶梯轴结构,所述置零标件的两端部的大直径段的端面为校准面。

在上述技术方案中,所述置零标件的端面全跳动和相对轴线的垂直度小于0.01mm。

在上述技术方案中,所述刻线调整盘通过螺栓同轴心固定于所述置零标件的端部。

在上述技术方案中,所述置零标件的端部设有光滑段,所述光滑段与所述刻线调整盘的中心通孔相匹配以加载所述刻线调整盘,所述置零标件的端面上设有螺纹孔,所述中心通孔的外侧环面设有均布通孔,所述均布通孔与所述螺纹孔分别一一对应,所述紧固螺钉穿过所述均布通孔和所述螺纹孔将所述刻线调整盘固定于所述置零标件上。

在上述技术方案中,所述连续刻线段的半径的精度为0.01mm。

在上述技术方案中,所述连续刻线段的相邻两个刻度段的半径的差值均为0.5mm。

在上述技术方案中,所述刻线调整盘设有两个调整区域,左侧调整区域的连续刻线段的调整范围为R~R+2.5mm,右侧调整区域的连续刻线段的调整范围为R+3.0~R+8.0mm。

在上述技术方案中,所述置零标件的材质与轴类零件的材质相同,以保持相同的膨胀系数,提高测量的精准度,

在上述技术方案中,所述置零标件和轴类零件的形状和尺寸相同,同时可提高尺寸测量的精准度。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

1.本实用新型所述精确调整测点位置的校准具,具有多功能特点,不加载刻线调整盘时,可作为一种轴向长度置零标准器使用,其精度可达0.01mm;加载刻线调整盘后,该校准具不但可对传感器进行零位校准,还具备精确调整传感器沿校准具径向方向上位置的功能,且调整精度可达0.01mm。

2.该校准具是对常规校准器的一种功能延伸,具有广阔的应用方向,可提高常规方法的校准精度。

附图说明

图1所示为本实用新型的校准具主视图;

图2为本实用新型的校准具侧视图;

图3为刻线调整盘局部放大图。

图4是传感器的调整示意图。

图中:1-置零标件,2-右刻线调整盘,3-左刻线调整盘,4-传感器,5-中心通孔,6-均布通孔,7-左侧调整区域,8-右侧调整区域,9-连续刻线段。

具体实施方式

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