[实用新型]一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路有效

专利信息
申请号: 202121144435.5 申请日: 2021-05-26
公开(公告)号: CN214953930U 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 魏津;张经祥;吴艳平 申请(专利权)人: 胜达克半导体科技(上海)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 代理人: 方燕娜;王雯婷
地址: 201799 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 测试 高压 数字 通道 自检 模块 诊断 电路
【说明书】:

本实用新型涉及测量电变量技术领域,具体地说是一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路。一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路,所述的高压通道自检模块包括DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_S3端口、DPS_R0端口至DPS_R3端口、DPS_RS0端口至DPS_RS3端口、PMU_F0端口至PMU_F3端口、PMU_S0端口至PMU_S3端口、PMU_R0端口至PMU_R3端口、PMU_RS0端口至PMU_RS3端口,HV0端口至HV3端口。同现有技术相比,提供一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路,完成了普通的集成电路测试机内也能实现高压测试通道的自检的功能,增加了载具板的测试性能,大大降低了测试时间及测试成本。

技术领域

本实用新型涉及测量电变量技术领域,具体地说是一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路。

背景技术

传统的自动测试机,从成本上的考虑,数字通道一般都只具备低电压(低于8V)的测试功能,因此,在传统的自动测试机上,也只配备低电压的自检测试通道,对于某些高电压的测试功能时,则需要另外配比特殊的自动测试机上才能实现,这样,传统的自动测试机上就不能实现低电压及高电压数字通道兼容的测试,自动测试机也就不能实现低电流及高电流兼容的自检功能。传统低压数字通道在7.5V以内,本测试机配备了高达13V的高压通道,因为电压较高,测量精度较难保证。

发明内容

本实用新型为克服现有技术的不足,提供一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路,完成了普通的集成电路测试机内也能实现高压测试通道的自检的功能,增加了载具板的测试性能,大大降低了测试时间及测试成本。

为实现上述目的,设计一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路,其特征在于:所述的高压通道自检模块包括DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_S3端口、DPS_R0端口至DPS_R3端口、DPS_RS0端口至DPS_RS3端口、PMU_F0端口至PMU_F3端口、PMU_S0端口至PMU_S3端口、PMU_R0端口至PMU_R3端口、PMU_RS0端口至PMU_RS3端口,HV0端口至HV3端口,第一近地电阻至第四近地电阻,第一分压电阻至第四分压电阻,接地电阻;第一近地电阻、第二近地电阻、第三近地电阻及第四近地电阻的一端合并接地;第一近地电阻的另一端分别连接第一分压电阻的一端、高压通道自检模块的DPS_F0端口、DPS_S0端口、PMU_F0端口及PMU_S0端口,第一分压电阻的另一端连接高压通道自检模块的HV0端口;第二近地电阻的另一端分别连接第二分压电阻的一端、高压通道自检模块的DPS_F1端口、DPS_S1端口、PMU_F1端口及PMU_S1端口,第二分压电阻的另一端连接高压通道自检模块的HV1;第三近地电阻的另一端分别连接第三分压电阻的一端、高压通道自检模块的DPS_F2端口、DPS_S2端口、PMU_F2端口及PMU_S2端口,第三分压电阻的另一端连接高压通道自检模块的HV2;第四近地电阻的另一端分别连接第四分压电阻的一端、高压通道自检模块的DPS_F3端口、DPS_S3端口、PMU_F3端口及PMU_S3端口,第四分压电阻的另一端连接高压通道自检模块的HV3;高压通道自检模块的DPS_R0端口、DPS_RS0端口、DPS_R1端口、DPS_RS1端口、DPS_R2端口、DPS_RS2端口、DPS_R3端口、DPS_RS3端口、PMU_R0端口、PMU_RS0端口、PMU_R1端口、PMU_RS1端口、PMU_R2端口、PMU_RS2端口、PMU_R3端口、PMU_RS3端口合并连接接地电阻的一端,接地电阻的另一端接地。

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