[实用新型]一种薄型轻力双接触推按检测开关有效
申请号: | 202121187420.7 | 申请日: | 2021-05-28 |
公开(公告)号: | CN214797188U | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 许名亮 | 申请(专利权)人: | 高铭电子(惠州)有限公司 |
主分类号: | H01H13/04 | 分类号: | H01H13/04;H01H13/10;H01H13/14;H01H13/12 |
代理公司: | 深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙) 44486 | 代理人: | 崔艳峥 |
地址: | 516006 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄型轻力双 接触 检测 开关 | ||
本实用新型提供了一种薄型轻力双接触推按检测开关,包括盖子、底座、端子、接触片、按压结构;底座包括凹槽,凹槽底部上表面包塑端子;接触片包括不少于两个引脚,接触片位于端子的上方,接触片设置在按压结构上,按压结构包括推按键和弹簧,接触片和推按键固定连接;盖子和底座设有扣合结构。本实用新型通过端子和底座塑胶包塑解决开关焊接过程中助焊剂侵入开关内部导致开关不导的现象、采用不少于两个引脚的接触片解决单个引脚变形产生开关导通不良以及接触片与推按键采用铆接的方式,解决推按键在操作过程中因摩擦力产生脱扣的问题。
技术领域
本实用新型属于开关设备的技术领域,具体涉及一种薄型轻力双接触推按检测开关。
背景技术
开关在人类生活中被广泛运用在各类电子产品,市面上开关的接触端子与塑胶底座采用嵌入组合式,嵌合面存在间隙,开关在焊接过程中的阻焊剂会循着间隙渗入到开关内部导致开关不导的现象。
而且市面上开关的接触片上采用的是嵌入组合式,在滑动过程中产生的摩擦力会导致接触片脱扣,所以在设置上只能选择单个引脚接触减少摩擦,而单引脚一旦变形,开关会产生接触不良和不导通的现象。
在现有技术的结构无法解决以上因果交错的问题,本实用新型提供一种薄型轻力双接触推按检测开关,解决开关容易接触不良、不导通的现象。
实用新型内容
为了克服上述现有技术的缺陷,本实用新型通过,提出了一种薄型轻力双接触推按检测开关。
具体通过以下技术方案实现:
在一个具体的实施例中,一种薄型轻力双接触推按检测开关,包括盖子、底座、端子、接触片、按压结构;
所述底座包括容纳所述端子、所述接触片、所述按压结构的凹槽,所述凹槽底部上表面包塑所述端子;
所述接触片包括不少于两个引脚,所述接触片位于所述端子的上方,所述接触片能向前活动使所述引脚与所述端子接触;
所述接触片设置在所述按压结构上,所述按压结构包括推按键和弹簧,所述接触片的上表面和所述推按键的下表面固定连接,所述弹簧一端设置在所述推按键的尾端,所述弹簧另一端抵接所述底座的内侧;
所述盖子和所述底座设有扣合结构。
在一个具体的实施例中,开关厚度小于3mm。
在一个具体的实施例中,所述扣合结构包括多个突起和多个缺口,所述多个突起设置在所述底座顶部,所述多个缺口设置在所述盖子侧部,所述多个突起和所述多个缺口一一对应嵌合。
在一个具体的实施例中,所述扣合结构包括多个卡片和多个卡盖,所述多个卡片设置在所述底座侧部,所述多个卡盖设置在所述盖子侧部,所述多个卡片和所述多个卡盖一一对应扣合。
在一个具体的实施例中,所述端子包括不少于两个触点,所述端子从所述凹槽底部平行伸出后向上折弯。
在一个具体的实施例中,所述接触片包括连接部,所述连接部连接所述引脚,所述连接部上设置多个接点。
在一个具体的实施例中,所述推按键包括多个驻点,所述驻点位于所述推按键的下表面,所述驻点与所述接点固定连接。
在一个具体的实施例中,所述推按键包括胶柄和基体,所述胶柄包括柄身、柄尾及与所述柄身横截面完全契合的柄头。
在一个具体的实施例中,所述基体和所述柄尾固定连接,所述基体完全置于所述凹槽。
在一个具体的实施例中,所述底座内侧包括凹陷,所述弹簧置于所述凹陷内。
本实用新型与现有技术相比具有如下有益效果:
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