[实用新型]一种自动化芯片测试装置

权利要求书

1.一种自动化芯片测试装置，其结构包括测试槽(1)、框架(2)、机体(3)、限位板(4)、垫块(5)、位移式操作台(6)、电控箱(7)，其特征在于：

所述机体(3)上设有组合使用的电控箱(7)，所述机体(3)上设有开口贯通的围接式框架(2)，所述测试槽(1)底壁位置配设有限位板(4)，所述限位板(4)壁设在框架(2)内底层位置上，所述框架(2)安装面相垂接电控箱(7)内壁，所述限位板(4)内侧凹槽相导接位移式操作台(6)。

2.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述位移式操作台(6)包括框座(30)、台板(31)、扣槽块(32)、第一壁条(33)、第二壁条(34)、嵌槽(35)、滑珠(36)，所述框座(30)表面叠设有台板(31)，所述扣槽块(32)安装在框座(30)前壁定点位置上，所述框座(30)两侧分设有位置间隔的第一壁条(33)与第二壁条(34)，所述第一壁条(33)与第二壁条(34)上设有若干嵌槽(35)，所述嵌槽(35)上设有内嵌式滑珠(36)，所述滑珠(36)表面可滚接限位板(4)内侧凹槽与框架(2)一内壁。

3.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述垫块(5)固设在机体(3)底部两侧间隔处。

4.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述框架(2)内腔一体构成测试槽(1)。

5.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述电控箱(7)位置相间隔限位板(4)。

6.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述框架(2)安装面高于垫块(5)位置。