[实用新型]集成电路测试安装架

说明书

本实用新型适用于集成电路测试领域，提供了一种集成电路测试安装架，用于固定集成电路测试设备，集成电路测试设备包括机头、主机和探针台，集成电路测试安装架包括：机架主体，具有用于固定探针台的第一固定面和用于固定主机的第二固定面，第一固定面和第二固定面为机架主体的相邻的两侧表面；测试载板，用于承载机头，测试载板置于机架主体上，测试载板与机架主体滑接连接而能够进入或离开位于探针台上方的操作空间。本实用新型提供的集成电路测试安装架，为机头提供固定支撑，测试载板将机头悬置于探针台上而有利于降低集成电路测试设备整体的占地面积，测试载板与机架主体滑接，而能够在不影响探针台的使用的情况下提高生产车间空间利用率。

技术领域

本实用新型属于集成电路测试技术领域，更具体地说，是涉及一种集成电路测试安装架。

背景技术

集成电路(Integrated Circuit简称IC)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等电子元件互相连接在一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个塑封体内，成为具有所需电路功能的单元模块；由于集成电路中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，所以在电子领域得到广泛应用。

集成电路在生产过程中，需要用到集成电路测试设备进行电性能测试，以保证产品在出厂前满足设计要求。而集成电路测试设备针对的是各种各样的产品，通常一款测试设备必须能满足各种电性能测试的需求，因此测试机的体积相对较大，根据型号及规模的不同，重量在几十千克到1000千克不等。由于测试设备本身体积及重量的原因，为了确保安全可靠，所以集成电路测试设备的安装装置通常比较大，占用了生产线更大的空间。

在半导体行业，集成电路测试设备包括测试机和探针台，测试机包括机头和主机，探针台主要实现集成电路上的接触点与测试机之间的电连接，因此在生产线车间，测试机与探针台都是一比一配套的。这带来的问题是，在生产线车间布局时，两台探针台之间，必须留出足够的空间间隔，用于安装测试机，通常预留的空间在2米左右，空间的利用率极低，这造成了空间的极大浪费。

发明内容

本实用新型的目的在于克服上述现有技术的不足，提供了一种集成电路测试安装架，其旨在解决现有生产车间空间利用率低的问题。

为实现上述目的，本实用新型实施例提供了如下技术方案：

一种集成电路测试安装架，用于固定集成电路测试设备，集成电路测试设备包括机头、主机和探针台，所述集成电路测试安装架包括：

机架主体，具有用于固定探针台的第一固定面和用于固定主机的第二固定面，所述第一固定面和第二固定面为所述机架主体的相邻的两侧表面；

测试载板，用于承载机头，所述测试载板置于所述机架主体上，所述测试载板与所述机架主体滑接连接而能够进入或离开位于所述探针台上方的操作空间。

可选的，所述测试载板通过滑接结构与所述机架主体连接，所述滑接结构包括固定于所述机架主体的上方的承重板、设于所述承重板上的滑轨和固定于所述测试载板的下表面的滑块，所述滑块滑接所述滑轨而带动所述测试载板进入或离开位于所述探针台上方的操作空间；所述滑轨和所述滑块有两个并配套设置。

可选的，两个所述滑块位于所述测试载板重心的两侧。

可选的，其中一所述滑块设于所述测试载板的中心位置。

可选的，所述滑接结构还包括锁止件和锁止孔，所述锁止件与其中一所述滑块连接，所述锁止孔开设于所述承重板，所述锁止孔有多个并顺次排列，所述锁止件随所述滑块沿所述滑轨移动而顺次经过各所述锁止孔，且在与所述锁止孔正对时能够置入所述锁止孔而限制所述滑块的移动。

可选的，所述测试载板开设有多个散热通孔。

可选的，所述测试载板与所述承重板留有散热间隙。