[实用新型]一种基于PXI结构的测距模拟器校准装置有效

专利信息
申请号: 202121226295.6 申请日: 2021-06-03
公开(公告)号: CN214224154U 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 程翊昕;杨宁;行江;梁双港;王胜奎;王震宇 申请(专利权)人: 中电科瑞测(西安)科技服务有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 金凤
地址: 710304 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 pxi 结构 测距 模拟器 校准 装置
【权利要求书】:

1.一种基于PXI结构的测距模拟器校准装置,包括PXI机箱(1)、PXI零槽控制器(2)、PXI矢量信号发生器板卡(3)、信号分析模块(4)和环形器(5),其特征在于:

所述PXI零槽控制器(2)、PXI矢量信号发生器板卡(3)和信号分析模块(4)安装于PXI机箱(1),且PXI零槽控制器(2)、PXI矢量信号发生器板卡(3)和信号分析模块(4)均连接PXI总线,所述的PXI矢量信号发生器板卡(3)发射测距模拟器信号所需的激励信号,通过环形器(5)后进入测距模拟器,环形器(5)将测距模拟器的应答信号接出并进入PXI信号分析模块(4),同时PXI矢量信号发生器板卡(3)发射触发同步信号给信号分析模块(4)作为激励信号和应答信号的参考。

2.根据权利要求1所述的基于PXI结构的测距模拟器校准装置,其特征在于:

所述PXI矢量信号发生器板卡(3)编辑的激励信号的脉冲波形为:前沿宽度小于1.6μs,从0.05幅度~0.3幅度一段是线性上升的;在下降沿,保持半幅度点脉冲宽度为3.5μs,波形是的cos/cos2形状,发射周期的双脉冲信号。

3.根据权利要求1所述的基于PXI结构的测距模拟器校准装置,其特征在于:

所述的PXI信号分析模块(4)包括本振源板卡、下变频板卡和中频数字化板卡;激励信号经本振源板卡和下变频板卡混频下变频后由中频数字化板卡进行中频采集;在采集应答信号时,根据应答信号的特点,根据GJB6277-2008偏离激励信号的中心频率63MHz处进行信号采集。

4.根据权利要求1所述的基于PXI结构的测距模拟器校准装置,其特征在于:

所述的PXI零槽控制器(2)控制PXI矢量信号发生器板卡(3)和PXI信号分析模块(4),设置PXI矢量信号发生器板卡(3)的发射频率和发射电平,将编辑的激励信号波形加载入PXI矢量信号发生器板卡(3)的IQ调制器,设置PXI信号分析模块(4)的采集中心频率、参考电平、采样速率和采样点参数,对采集得到的激励信号和应答信号进行波形处理,得到测量结果,并判断测距模拟器的技术指标是否满足要求,最终生成测试报告。

5.根据权利要求1所述的基于PXI结构的测距模拟器校准装置,其特征在于:

所述的PXI矢量信号发生器板卡(3)为NI公司的信号发生器PXIE-5673E,本底噪声可达-150dBm/Hz,保证了IQ调制产生的基带信号调制完成后的频域完整性。

6.根据权利要求1所述的基于PXI结构的测距模拟器校准装置,其特征在于:

所述的PXI信号分析模块(4)内采用的本振源板卡为NI公司的PXIe-5653,该设备输出的本振信号可到达26.5GHz;采用的下变频板卡为NI公司的PXIe-5606,该设备的变频带宽可达到765MHz,变频的射频载波频率达到26.5GHz;使用的中频数字化板卡为NI公司的PXIe-5624R,该设备的采样速率可达2GHz,数字化分辨率可达12比特,保证采集波形的完整性和分辨力。

7.根据权利要求1所述的基于PXI结构的测距模拟器校准装置,其特征在于:

当测距模拟器所需的激励信号功率大于PXI矢量信号发生器板卡(3)最大输出功率时,在PXI矢量信号发生器板卡(3)输出端口增加功率放大器,提高PXI矢量信号发生器板卡(3)的输出功率。

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