[实用新型]一种多通道转接针结构

说明书

本实用新型公开了一种多通道转接针结构，旨在提供一种结构紧凑、测试稳定及能够实现多通道测试的多通道转接针结构。本实用新型包括从下到上依次设置的测试板、针板组件、载板组件、压板组件及转接板，所述针板组件上设置有与所述测试板相配合的下转接针，所述载板组件上开有通孔，所述压板组件上设置有与所述转接板相配合的上转接针，所述下转接针的上端与所述上转接针的下端相配合，所述载板组件上设置有若干个测试工位；测试时，产品放置在载板组件上，产品通过探针将针点信号收集到转接板上，通过上转接针与下转接针将信号输送到测试板上。本实用新型应用于多通道转接针结构的技术领域。

技术领域

本实用新型涉及一种多通道转接针结构。

背景技术

随着工业技术发展，消费群体对于电子产品性能及可靠性要求的提高，以及高要求的测试需求，对于各种消费类电子产品的稳定测试将成为保证和提升其性能和可靠性的重要手段。需求稳定测试的同时多通道测试也不断升级，能满足更多的产品测试需求，同时具有测试效率高，测试结果可靠性高等优点。现有技术是多为单通道信号转接技术，测试需求简单，不适用于更多测试需求和更复杂的产品测试。因此目前需要研发出一种结构紧凑、测试稳定及能够实现多通道测试的多通道转接针结构。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种结构紧凑、测试稳定及能够实现多通道测试的多通道转接针结构。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括从下到上依次设置的测试板、针板组件、载板组件、压板组件及转接板，所述针板组件上设置有与所述测试板相配合的下转接针，所述载板组件上开有通孔，所述压板组件上设置有与所述转接板相配合的上转接针，所述下转接针的上端与所述上转接针的下端相配合，所述载板组件上设置有若干个测试工位。

进一步，所述下转接针的上端为可伸缩的尖端。

进一步，所述上转接针的下端为平头端。

进一步，所述下转接针的上端穿过所述通孔，且与所述上转接针的下端相配合。

本实用新型的有益效果是：本实用新型在不影响原有测试结构上增加转接技术，很好的应用于空间有限的测试夹具，结构紧凑，夹具占地小；此外，本实用新型采用上下分开式转接，适用活动型测试结构，并满足多通道测试，高效稳定测试。

附图说明

图1是本实用新型的立体结构示意图；

图2是本实用新型的平面结构示意图；

图3是本实用新型的分解图；

图4是本实用新型的剖视图；

图5是上转接针的立体结构示意图；

图6是下转接针的立体结构示意图。

具体实施方式