[实用新型]一种用于产品测试的夹具

说明书

本实用新型涉及一种用于产品测试的夹具，包括设置有承托柱的基座、探针板、测试针组件和限位组件；承托柱为台阶柱，靠近基座的一端的直径较远离基座的一端的直径大；探针板设置有定位孔，定位孔与台阶柱直径较小的一端配合；探针板均匀布置有通孔；测试针组件包括测试针套装于测试针上的胶套，胶套与通孔连接；限位组件包括可与通孔连接的定位柱和套装于定位柱上的磁性环。夹具根据不同型号的电路板进行测试针和定位柱的安装，使得夹具能够固定不同型号的电路板并进行测试，令夹具具有更好的通用性，降低夹具的成本。

技术领域

本实用新型涉及测试夹具领域，更具体地，涉及一种用于产品测试的夹具。

背景技术

在印刷电路板的生产过程中，电路板需经过多个环节的检测才能达到合格。在印刷电路板检测过程中，最为常用的使用器具为测试夹具，测试夹具是利用测试针将印刷电路板上的待测点与测试机器中的对应点连通，通过调用相应的程序来对电路板进行测试。

但是现有的测试夹具在都是针对专用与其中一种型号的电路板，测试不同型号的电路板需要更换不同的测试夹具，夹具通用化程度低，导致夹具的成本较高。

实用新型内容

本实用新型为克服上述现有技术中至少一个缺陷，提供一种用于产品测试的夹具，能够适用于测试多种不同型号的电路板。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种用于产品测试的夹具，包括设置有承托柱的基座、探针板、测试针组件和限位组件；所述承托柱为台阶柱，靠近所述基座的一端的直径较远离所述基座的一端的直径大；所述探针板设置有定位孔，所述定位孔与所述台阶柱直径较小的一端配合；所述探针板均匀布置有通孔；所述测试针组件包括测试针套装于所述测试针上的胶套，所述胶套与所述通孔连接；所述限位组件包括可与所述通孔连接的定位柱和套装于所述定位柱上的磁性环。

在上述的技术方案中，在初次进行某一型号的电路板测试的时候，将待测试的电路板放置在探针板上，让电路板上的待测点对准不同的通孔，然后将测试针安装对应的通孔上，然后通过定位柱穿过电路板边缘的工艺孔后与探针板固定连接，再将磁性环套装在定位柱上，通过磁性环的磁性吸附作用固定电路板。测试针通过胶套与通孔连接，胶套为绝缘材质，不会影响测试针的测试功能。完成电路板和测试针的安装后，将探针板安装在基座的承托柱上，通过承托柱的台阶柱结构，使得测试针位于基座和探针板之间的空间内，测试针连接有测试机器，通过测试机器完成电路板的测试。电路板完成测试后，取下磁性环，然后将下一个待测试的电路板的工艺孔套装入定位柱上，然后再装上磁性环固定电路板，通过不断重复完成多个同型号的电路板的测试。当需要测试不同型号的电路板的时候，只需按照上述的方法重新进行测试针和电路板的初次安装，就可以进行另一类型电路板的测试，无须更换夹具主体。探针板上可同时进行多个电路板的测试，提高测试的效率。

优选的，所述测试针设置有两个凸起环，所述胶套位于两个所述凸起环之间。凸起环能够限制胶套的位置，防止胶套和测试针之间发生相对移动，导致测试针无法接触电路板的测试点。

优选的，所述测试针包括针体和设置于所述针体一端的锥形部；所述针体的截面为多边形，所述胶套与所述针体的外形贴合。锥形部的末端能够与电路板的测试点进行点对点的接触，使得测试针能够更好地与电路板上的测试点接触。而针体育胶套配合，两者的截面均为多边形，在将测试针安装至通孔上的时候，转动测试针能够带动胶套转动，两者之间不会发生相对的转动。

优选的，所述胶套与所述通孔螺纹连接；所述定位柱设置有连接部，所述连接部与所述通孔螺纹连接。胶套和定位柱均与通孔螺纹连接，连接稳固且容易拆卸。

优选的，所述定位柱为硬质塑料，不会与定位柱发生磁性干涉，使得磁性环能够更容易套装在定位柱上。

优选的，所述探针板为绝缘材质，探针板不会影响电路板的测试，而为了能够让电路板能够固定，所述定位柱靠近所述连接部的一侧设置有金属环，电路板的底面与金属环接触，在装入磁性环后，磁性环的磁力将电路板压紧在金属环上，完成电路板的固定。