[实用新型]一种快速透反射测量仪

说明书

本实用新型公开了一种快速透反射测量仪，包括底座、发射机构、接收机构及被测样品组件，且发射机构、接收机构相对被测样品组件能够旋转，用于调节发射机构和接收机构之间的夹角，相对于被测样品组件对称后快速精准测量被测样品组件的被测样品的透射率和/或反射率。此外，本实用新型还包括宽谱光源和光纤光谱仪。光纤光谱仪采用线阵光电探测器，以保证所探测的光谱被快速一次性成像到线阵光电探测器。本实用新型的发射机构及接收机构分别通过光纤和宽谱光源和光纤光谱仪连接，能快速精准地实现对测量样品的透射率或反射率测量。

技术领域

本实用新型涉及一种光学测量仪，具体涉及一种快速透反射测量仪。

背景技术

现有常规的透反射测量仪多采用旋转光栅法实现分光测量，这种方法明显的缺陷是速度太慢，不适合快速测量的应用场合。其次，这类透反射测量仪采用氘灯和钨灯组合作为光源，光谱的起伏比较大。安装两个灯源的结构相对复杂费时。此外，此类透反射测量仪在800nm左右的测量需要切换探测器，通常会出现测量光谱的抖动，影响测量精度,特别是使用几年后透反射测量仪出现磨损后。最后，现有的透反射测量仪在测量反射率时，基本上采用标准块(如特氟隆)做相对标定而测量元件的反射率，得到的不是元件的绝对反射率，而是相对反射率。这对于需要测量元件绝对反射率的应用场合十分不便。

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型提供一种快速透反射测量仪，能够快速精准地实现对光学测量样品的透射率或反射率测量。

一种快速透反射测量仪，包括底座、发射机构、接收机构及被测样品组件，所述被测样品组件、所述发射机构和接收机构安装于所述底座上，且相对所述底座能够旋转，用于调节所述发射机构和接收机构之间的夹角，所述夹角为0-180°，相对于所述被测样品组件对称后快速精准测量所述被测样品组件的被测样品透射率和/或反射率。

优选地，所述发射机构包括第一旋转固定组件和发射组件，所述第一旋转固定组件与所述发射组件连接并旋转调节所述发射组件的旋转角度。所述第一旋转固定组件包括第一转台固定支架、第一转台、第一转台转接支架、发射光头支架，所述第一转台固定支架固定于所述底座上，其内侧依次与所述第一转台和所述第一转台转接支架连接，所述发射光头支架为“L”型结构，其一端与所述第一转台的侧边连接，所述发射光头支架的另一端与所述发射组件连接，用于当旋转所述第一转台时带动所述发射光头支架转动而调节所述发射组件与所述被测样品的角度。

优选地，所述接收机构包括第二旋转固定组件和接收组件，所述第二旋转固定组件与所述接收组件连接并旋转调节所述发射组件的旋转角度。所述第二旋转固定组件包括第二转台固定支架、第二转台、第二转台转接支架、接收光头支架，所述第二转台固定支架固定于所述底座上，其内侧依次与所述第二转台和所述第二转台转接支架连接，所述接收光头支架为“L”型结构，其一端与所述第二转台转接支架的侧边连接，所述接收光头支架的另一端与所述接收组件连接，用于当旋转所述第二转台时带动所述接收光头支架转动而调节所述接收组件与所述被测样品的角度。

优选地，所述被测样品设置于所述发射组件和所述接收组件之间，调节所述发射组件和所述接收组件之间的角度，测量所述被测样品的透射率和/ 或反射率。所述被测样品组件包括被测样品和样品支架，所述样品支架固定于所述底座上，用于放置所述被测样品，所述被测样品包括透射样品和反射样品，分别用于测量透射率和反射率。

优选地，所述发射组件包括发射光头和发射光头光纤，所述发射光头光纤设置于所述发射光头的一侧，用于将测量光导入所述发射光头，所述发射光头的底部与所述发射光头支架的一端连接，用于将所述发射光头光纤导入所述发射光头的测量光发射于所述被测样品上。

优选地，所述接收组件包括接收光头和接收光头光纤，所述接收光头光纤设置于所述接收光头的一侧，将经所述被测样品透射和/或反射的测量光导入光纤光谱仪，完成相应的测量，所述接收光头的底部与所述接收光头支架的一端连接，用于接收所述发射组件发射出的测量光或经过被测样品透射或反射的测量光。