[实用新型]一种半导体封装用加热装置及焊接设备有效
申请号: | 202121329949.8 | 申请日: | 2021-06-15 |
公开(公告)号: | CN215342522U | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 吴限 | 申请(专利权)人: | 深圳市劲拓自动化设备股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐丽 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区西乡*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 封装 加热 装置 焊接设备 | ||
1.一种半导体封装用加热装置,其特征在于,包括:
加热板(1),其用于提供热源;
加热板电源线(2),其一端与所述加热板(1)相连,另一端用于与外部电源相连;
加热基板(3),其与所述加热板(1)贴合相连,用于传递热量以使热量均匀,加热时,待加热件放于所述加热基板(3)。
2.根据权利要求1所述的半导体封装用加热装置,其特征在于,还包括用于检测所述加热基板(3)的温度的第一测温元件,所述第一测温元件用于与控制外部电源的加热参数的控制器相连,以使所述控制器根据所述第一测温元件的温度反馈,控制所述加热板(1)的温度。
3.根据权利要求1所述的半导体封装用加热装置,其特征在于,还包括用于检测所述加热基板(3)的温度的第二测温元件,所述第二测温元件用于连接温度巡检仪,以当所述加热基板(3)超温后自动切断外部电源。
4.根据权利要求1-3任一项所述的半导体封装用加热装置,其特征在于,还包括用于向所述加热基板(3)的第一侧充入氮气的氮气充气管(5),其中,所述第一侧为所述加热基板(3)用于设置晶圆的一侧。
5.根据权利要求4所述的半导体封装用加热装置,其特征在于,所述氮气充气管(5)位于所述加热基板(3)的第二侧,所述加热基板(3)设有若干个通气孔(6),其中,所述第二侧为与所述第一侧相背离的一侧。
6.根据权利要求4所述的半导体封装用加热装置,其特征在于,还包括用于采集所述第一侧的气体的氮气采集管(7),以分析氧气浓度。
7.根据权利要求1-3任一项所述的半导体封装用加热装置,其特征在于,所述加热板(1)与所述加热基板(3)之间夹设有具有导热性的绝缘板(8)。
8.根据权利要求7所述的半导体封装用加热装置,其特征在于,还包括加热板固定板(9),所述加热基板(3)、所述绝缘板(8)和所述加热板(1)通过螺丝锁紧于所述加热板固定板(9)。
9.根据权利要求8所述的半导体封装用加热装置,其特征在于,所述加热板固定板(9)远离所述加热板(1)的一侧设有隔热板(10)。
10.一种焊接设备,其特征在于,包括权利要求1-9任一项所述的半导体封装用加热装置。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造