[实用新型]一种可提高碳质组分分析仪测试精准度的样品测试组装体有效

专利信息
申请号: 202121406325.1 申请日: 2021-06-23
公开(公告)号: CN213986162U 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 李萍;傅平青;王自发 申请(专利权)人: 中国科学院大气物理研究所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01
代理公司: 北京箴思知识产权代理有限公司 11913 代理人: 谭艳;曾晓波
地址: 100029 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 组分 分析 测试 精准 样品 组装
【说明书】:

实用新型涉及一种可提高碳质组分分析仪测试精准度的样品测试组装体,包括垂直于激光入射方向依次设置的空白石英膜、透明隔离片和样品石英膜,所述空白石英膜、透明隔离片和样品石英膜的形状相同且面积相同;所述透明隔离片为耐870℃以上高温的材料,可见光透过率在93%以上,在2600‑2800nm波段范围内无明显吸收带。上述样品测试组装体结构简单,仅仅在空白石英膜和样品石英膜之间放置透明隔离片,便能有效改善样品测试值偏差,提高数据精密度,同时节约了高温烘烤空白石英膜和取膜放膜的时间,显著改善了检测效率。

技术领域

本实用新型涉及碳质组分分析技术领域,具体涉及一种可提高碳质组分分析仪测试精准度的石英隔离片。

背景技术

碳质组分分析仪,又称OC/EC(有机碳/元素碳)分析仪,是一款通过对石英膜样品进行热光学透射率(TOT)分析,从而测量大气颗粒物中有机碳(OC)、元素碳(EC)浓度的仪器。

OC/EC分析仪的工作过程是:将采集了大气颗粒物的石英样品膜放入石英炉(quartz oven)中,先在He载气的非氧化环境下逐级升温至850℃,认为其间挥发出的是OC(有一部分被炭化),然后再在He/O2载气下逐级升温至870℃,此间认为EC被氧化分解并逸出。整个的过程都有一束激光(670nm)打在石英膜上,其透射光在OC炭化时会减弱。随着He切换成He/O2,同时温度升高,EC会被氧化分解,激光束的透射光的光强就会逐渐增强。当恢复到最初的透射光强时,这一时刻就认为是OC、EC分割点,即,此时刻之前检出的碳都认为是OC,之后检出的碳都认为是EC。 OC/EC分析仪的精密度是5%,最低检出限是0.2μg cm-2。平均1个样品的测试时间大约20分钟左右,具体由分析流程决定。

一般情况下,测样时需要在石英玻璃管中的样品膜前放一张空白石英膜,石英膜对空气中的颗粒物和挥发性有机化合物(volatile organic compounds,VOC)有很好的吸附作用,因此,通常利用空白石英膜强大的吸附作用消除空气中VOC等的影响,从而阻挡仪器发射的激光对样品膜测定结果的影响。但是,空白石英膜在使用前需进行预处理,比如,在马弗炉中450℃下烘烤6h,以去除空白膜中所有的碳物质,从而对样品膜的测定结果不造成任何影响。在实际操作中,每次测试结束后,空白膜和样品膜都会被挤压在一起,无法分离。因此,每测定一个样品,就要重新取空白膜。随着取膜次数的增加,预处理后的空白膜不仅吸附了空气中的有机碳,还容易被镊子等取膜工具污染,从而导致样品有机碳测定值误差越来越大,且无法定量;如要减小偏差,实验人员不得不一再高温烘烤空白石英膜,浪费人力和时间。

实用新型内容

在下文中给出了关于本实用新型的简要概述,以便提供关于本实用新型的某些方面的基本理解。应当理解,这个概述并不是关于本实用新型的穷举性概述。它并不意图确定本实用新型的关键或重要部分,也不意图限定本实用新型的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念,以此作为稍后论述的更详细描述的前序。

鉴于现有技术的上述缺陷,本实用新型的目的在于提供一种可提高碳质组分分析仪测试精准度的样品测试组装体,以至少解决目前碳质组分分析仪测试精准度不够高、人力和时间耗费大的问题。

根据本实用新型的一个方面,提供了一种可提高碳质组分分析仪测试精准度的样品测试组装体,包括垂直于激光入射方向依次设置的空白石英膜、石英玻璃片和样品石英膜,所述空白石英膜、透明隔离片和样品石英膜的形状相同且相同面积;所述透明隔离片为耐870℃以上高温的材料,可见光透过率在93%以上,在2600-2800nm波段范围内无明显吸收带。

上述根据本实用新型实施例的可提高碳质组分分析仪测试精准度的样品测试组装体,仅仅在空白石英膜和样品石英膜之间放置透明隔离片如石英玻璃片,便能有效改善样品测试值偏差,提高数据精密度,同时节约了高温烘烤空白石英膜和取膜放膜的时间,显著改善了检测效率。

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