[实用新型]手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备有效
申请号: | 202121424472.1 | 申请日: | 2021-06-25 |
公开(公告)号: | CN214893141U | 公开(公告)日: | 2021-11-26 |
发明(设计)人: | 邱晓波 | 申请(专利权)人: | 杭州耕德电子有限公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 杭州华知专利事务所(普通合伙) 33235 | 代理人: | 束晓前 |
地址: | 310018 浙江省杭州市江干区*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 手机 曲面 平面 自动 测量 设备 | ||
手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备,包括机架及机架上的平台底板,所述平台底板中间固定有光源及检具,检具位于光源上方且与光源具有间隙,检具上开设有若干透光槽,平台底板四周分布有一定数量的摄像头模组。本实用新型的测量设备效率高速度快,自动测量平均每PCS时间为6S(含取放时间),测量数据准确率高,采用CCD测量读书精度0.001MM以内,测量面覆盖产品四周,不存在局部位置漏失风险。
技术领域
本实用新型涉及手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备。
背景技术
传统的生产经营模式更多的依靠劳动力成本、规模优势,但随着近几年人工成本的不断上涨,将面临着外部环境变化带来的竞争压力和行业环境变化带来的经营压力。此外,智能手机等消费电子产品工艺变化周期日益缩短,产品精度越来越高,往往人工作业达不到工艺要求,迫切需要开发新工艺、新设备来满足生产工艺要求。
自动化工厂也是当今时代工业化发展的趋势。随着技术革新及市场需求变化,手机结构件已呈现材料多样化,机型少样大量化特点。传统的手机中框曲面屏小C平面度检测使用塞尺+平台检测,容易造成外观三伤不良,测量时间长效率低,平均测量1片产品需要15S左右,且人为测量且存在误判比例。使用光耦测量方案,局限性太大,对壳体仓深要求1.5MM以上Z向尺寸才可以装下光耦,不适应曲面屏手机中框,另外,塞尺测量+光耦测量都采用点位测量法,存在局部位置漏失风险,导致不良流入客户端。
实用新型内容
本实用新型的目的是解决上述现有装置的不足,提供手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备,效率高速度快,测量数据准确率高,测量面覆盖产品四周,不存在局部位置漏失风险。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案如下:
手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备,包括机架及机架上的平台底板,所述平台底板中间固定有光源及检具,检具位于光源上方且与光源具有间隙,检具上开设有若干透光槽,平台底板四周分布有一定数量的摄像头模组。手机中框放置在检具上,打开光源,光线从透光槽照射到手机中框上,运用光反射原理,摄像头模组再抓取反射光Z向尺寸,推算出产品平面度是否达标。
作为优选,所述透光槽数量为四条,两长两短围成一个矩形。
作为优选,所述摄像头模组包括固定在平台底板上的模组底板,模组底板上固定有两块模组侧板,两块模组侧板之间设有通过模组横板架设的摄像头。其中,摄像头采用CCD相机。
作为优选,所述模组底板、模组侧板和模组横板上分别开设有条形孔。条形孔呈XYZ三个方向,通过条形孔,可调整摄像头的前后、左右、及上下的位置。
作为优选,两条较长的所述透光槽外侧的摄像头模组数量为两个,两条较短的所述透光槽外侧的摄像头模组数量为一个。
作为优选,所述摄像头模组还包括内侧开口的罩壳,起到防护作用。
作为优选,所述机架底部设有脚轮及脚杯组件,用于机架及其上机构的移动及定位。
本实用新型的有益效果在于:本实用新型的测量设备效率高速度快,自动测量平均每PCS时间为6S(含取放时间),测量数据准确率高,采用CCD测量读书精度0.001MM以内,测量面覆盖产品四周,不存在局部位置漏失风险,另外还减少外观三伤。
附图说明
图1是本实用新型的立体图;
图2是本实用新型的主视图;
图3是图2中A-A向的剖视图;
图4是本实用新型的局部立体图;
图5是本实用新型中光源及检具的立体图;
图6是本实用新型中光源及检具的主视图;
图7是图6中B-B向的剖视图;
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