[实用新型]一种棱线测量装置有效
申请号: | 202121443305.1 | 申请日: | 2021-06-28 |
公开(公告)号: | CN215217499U | 公开(公告)日: | 2021-12-17 |
发明(设计)人: | 杨明伟;江保军;鲍景明;徐阵涛;苗顺占 | 申请(专利权)人: | 中国核电工程有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/02;G01B11/24 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 罗建民;邓伯英 |
地址: | 100840 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 棱线 测量 装置 | ||
1.一种棱线测量装置,其特征在于,包括固定机构、测量机构(4)、立柱(1),
所述固定机构用于固定待测量组件,所述立柱(1)设于所述待测量组件的一侧,
所述测量机构(4)包括测量框架(10)和棱线测量单元(9),所述测量框架(10)安装在所述立柱(1)上,所述棱线测量单元(9)包括测量底座(12)、测量驱动组件(8)、激光位移传感器(16)、光栅尺测量组件(11),
所述测量底座(12)固定在所述测量框架(10)上,所述测量驱动组件(8)固定在所述测量底座(12)上,
所述激光位移传感器(16)安装于所述测量驱动组件(8)上,通过所述测量驱动组件(8)带动所述激光位移传感器(16)靠近待测量组件,以测量待测量组件在该截面高度的棱线数据,
所述光栅尺测量组件(11),用于读取所述激光位移传感器(16)的位置。
2.根据权利要求1所述的棱线测量装置,其特征在于,所述测量机构(4)还包括升降组件,用于带动所述测量框架(10)在所述立柱(1)上做升降运动。
3.根据权利要求2所述的棱线测量装置,其特征在于,所述升降组件包括第一直线导轨(6)和滑块(7),
所述第一直线导轨(6)沿所述立柱(1)的长度方向设置在立柱(1)上,所述滑块(7)滑设在第一直线导轨(6)上,所述测量框架(10)固定在所述滑块(7)上。
4.根据权利要求3所述的棱线测量装置,其特征在于,所述测量驱动组件(8)包括驱动部件(13)、第二直线导轨(14)、测量支架(15),
所述第二直线导轨(14)固设在所述测量底座(12)上,所述测量支架(15)滑设于所述第二直线导轨(14)上,所述激光位移传感器(16)固定于所述测量支架(15)上,所述驱动部件(13)用于驱动所述测量支架(15)沿着所述第二直线导轨(14)运动,从而带动所述激光位移传感器(16)靠近待测量组件。
5.根据权利要求3所述的棱线测量装置,其特征在于,待测量组件为MOX组件(17),
所述棱线测量单元(9)的数量与所述MOX组件(17)的棱线数量一致,各个所述棱线测量单元(9)的激光位移传感器(16)分别与所述MOX组件(17)的各根棱线对准。
6.根据权利要求5所述的棱线测量装置,其特征在于,还包括控制机构,所述控制机构包括控制器,
所述控制器分别与各个驱动部件(13)电连接,以用于控制驱动部件(13)驱动激光位移传感器(16)运动,
各个光栅尺测量组件(11)分别与控制器电连接,用于当所述激光位移传感器(16)运动到测程范围内时,分别发送第一信号给控制器,控制器还用于在接收到第一信号时,控制各个驱动部件(13)停止工作。
7.根据权利要求6所述的棱线测量装置,其特征在于,所述控制机构还包括处理器,
所述处理器与各个激光位移传感器(16)电连接,用于接收各个激光位移传感器(16)所测量的棱线数据,并据此分析计算出待测量组件在该截面高度的棱线对称度。
8.根据权利要求1-7任一项所述的棱线测量装置,其特征在于,还包括基座(2),所述固定机构与所述立柱(1)固定安装在所述基座(2)上。
9.根据权利要求8所述的棱线测量装置,其特征在于,所述固定机构包括顶部固定组件(5)与底部固定组件(3),
所述顶部固定组件(5)滑设在第一直线导轨(6)上,所述底部固定组件(3)固定安装在基座(2)上,待测量组件夹持在所述顶部固定组件(5)与所述底部固定组件(3)之间。
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